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  1. (Dept. of Electrical and Electronic Engineering, Pusan National University, Korea.)
  2. (Dept. of Semiconductor Engineering, Gyeongsang National University, Korea.)



Capacitively Coupled Plasma, Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition

1. 서 론

SiO2 박막은 높은 절연 저항, 낮은 누설 전류 밀도, SiO2 박막은 높은 절연 저항, 낮은 누설 전류 밀도, 그리고 우수한 균일성과 같은 뛰어난 특성을 나타낸다. 이러한 특성 덕분에 SiO2 박막은 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에서 패시베이션 코팅, 인터레벨 유전체 및 게이트 유전체로 널리 사용되고 있다. 또한, 실리콘 기반 집적 회로(IC) 및 마이크로전자기계시스템(MEMS)의 절연층으로 제작에 활용된다[1]. 이뿐만 아니라, SiO2 박막은 메모리 및 논리 소자에서 유전체 절연, 게이트 밀봉, 그리고 갭 필드 옥사이드와 같은 용도로 사용되는 것으로 보고되었다[2-3].

SiO2 박막의 경우 일반적으로 화학 기상 증착(CVD) 방법 중 플라즈마 강화 화학 기상 증착(PECVD)을 주로 사용한다. PECVD를 이용한 SiO2 박막 증착 시 산소와 같은 음이온이 포함되어 전기음성도가 높은 플라즈마의 경우 해리 부착 반응을 통해 벌크 플라즈마에서 음이온을 생성하는 것으로 알려져 있다. 방전에서 음이온이 존재하면 방전 화학 및 표면 공정에 모두 영향을 미친다. 음이온은 쉬스 전위를 결정하고 따라서 이온 입사 에너지를 결정하는 데 중요한 역할을 한다. 또한 음이온은 쉬스 붕괴 상에서는 표면에 도달하여 표면 반응에 참여한다. 이러한 이유들을 통해 음이온을 실험적으로 측정하려는 많은 노력을 한다[4].

Jauberteau 연구진은 용량 결합형 플라즈마 방전에서 레이저 광학 분리와 공명을 사용하여 음이온을 측정했고[5], Booth 연구진은 캐비티 링 다운 분광법 및 두 개의 프로브 기술을 사용하여 음이온 분율을 조사하였으며[6-7], 랭뮤어 프로브 보조 레이저 광 분리를 이용하여 불소 음이온 밀도를 측정하는 등 많은 노력을 하고 있다[8-9]. 하지만 이러한 방법들은 비용이 높고, 플라즈마 내의 다른 방출광이나 산란광이 레이저 신호와 간섭을 일으킨다. 또한 좁은 전극 사이 거리를 가진 용량 결합형 플라즈마에서 랭뮤어 프로브 및 다양한 침습성 프로브를 사용하는 데 어려움을 준다. 이러한 이유로 음이온을 정확하게 측정하는 것은 매우 어려운 것으로 알려져 있다.

컴퓨터 시뮬레이션은 플라즈마 방전 과정을 연구하는 데 있어 편리하고 효과적인 도구로, 다양한 연구에서 이를 통해 플라즈마 거동을 분석해 왔다. Bai 연구진은 Global model 시뮬레이션을 통해 Ar/O2 혼합 기체에서 기하학적, 전기적 비대칭이 플라즈마 직렬 공명 효과를 조사했으며[10], Tian 연구진은 2차원 Particle-In-Cell MonteCarlo(PIC-MCC) 시뮬레이션으로 Ar/O2 혼합 기체에의 동역학적 거동을 조사했다[11]. 또한 S. H. Lee 연구진은 1차원 PIC-MCC 시뮬레이션과 2차원 유체 시뮬레이션 결과를 실험과 비교하며 전자 및 이온 밀도 등 플라즈마 밀도 변화에 중점을 둔 연구를 수행했다[12].

이번 연구에서는 Ar/O2 용량 결합형 플라즈마 2차원 유체 시뮬레이션 모델을 사용하여 압력과 기체 조성비가 활성 종 및 이온의 분포에 미치는 영향을 분석했다. 그 결과는 Hyungtak seo 연구진의 실험 결과와 경향성이 유사하게 나타났다[13]. 이를 통해 플라즈마 내 각 화학 반응의 반응률이 음이온, 중성, 이온 같은 활성 종 분포와 플라즈마 거동에 미치는 영향을 이해하는 데 기여하며, 플라즈마 내 반응 메커니즘의 이해를 높일 수 있다.

2. 본 론

2.1 시뮬레이션 조건 및 구성

이 시뮬레이션에 사용된 모델 구조는 그림 1에 표시되어 있으며 2차원 축 대칭 영역으로 표현된다. 챔버의 폭은 반경 240[mm], 높이는 70[mm]으로 구성했다. 전원 전극과 접지 전극은 포커스 링과 유전체로 둘러싸여 있다. 전원 전극의 너비는 150[mm], 접지 전극의 너비는 190[mm]으로 비대칭 구조를 이루고 있다. 두 전극 사이의 간격은 50[mm] 다. 두 전극과 벽은 알루미늄으로 구성했으며 유전체 재료는 알루미나(상대 유전율: 9.3)이며 포커스 링은 석영(상대 유전율: 4.2)으로 구성했다.

용량 결합형 플라즈마 모델에 사용된 메시의 수는 약 15,000개의 요소로 구성했다. 플라즈마 방전은 13.56[MHz]의 주파수에서 작동한다. RF 인가 전력과 가스 온도는 각각 50[W]와 300[K]으로 고정했으며, 중성 기체 계산은 이상적인 기체를 가정하여 수행했다. 가스 혼합물은 가스 유입구를 통해 지속적으로 주입되며 가스 유량은 100[sccm]으로 고정했다. 또한 가스 혼합물은 챔버 하단에 위치한 가스 배출구를 통해 배출되며, 가스 유입구에서의 가스 혼합물 비율은 Ar(50%-90%) 및 O2(10%-50%)로 변경된다. 챔버 내 가스 압력은 50~300[mTorr]로 변화시키며 시뮬레이션을 진행했다.

그림 1. Ar/O2 용량 결합형 플라즈마 챔버의 개략도 및 메쉬

Fig. 1. Schematic diagram meshes of Ar/O2 Capacitively Coupled Plasma chamber

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig1.png

이 시뮬레이션에서는 푸아송 방정식, 전자 에너지 보존 방정식, 그리고 각 종의 밀도 보존 방정식을 사용한다. 먼저, 각 종의 플럭스를 고려하기 위해 드리프트-확산 근사를 적용했다.

(1)
nitγi=Si
(2)
γi=μiE(Dini)

여기서 ni, γi, Si, μiDi는 각각 이온의 농도, 플럭스, 하전된 종 i의 소스, 이동도 및 확산 계수를 나타낸다. 전자의 온도는 아래의 전자 에너지 보존 방정식을 통해 계산된다[14].

(3)
(neϵe)t+(35ϵeγe23kϵe)=eγeEneϵcνiz
(4)
ϵe=32Te
(5)
k=52neDe

여기서 ϵe, k, ϵc, νizTe는 각각 전자의 평균 에너지, 열전도 계수, 생성된 전자-이온 쌍당 손실되는 충돌 에너지, 이온화 충돌 빈도 및 전자 온도를 의미한다. 전기장의 자체 일관성을 위해 푸아송 방정식은 유체 방정식과 동시에 계산한다.

(6)
(ϵϕ)=e(Σnine)

여기서 ϕ, ϵ은 각각 정전기 전위 및 유전율을 나타낸다. 접지된 전극과 챔버 벽에서의 전자 플럭스와 전자 에너지 플럭스는 (7), (8) 번 수식을 따른다[14].

(7)
nγe=1γe1+γene128kBTemeπ
(8)
nγϵ=1γϵ1+γϵnϵ568kBTemeπ

여기서 γe, kBme는 각각 전자 반사 계수, 볼츠만 상수 그리고 전자의 질량을 나타낸다. 이 시뮬레이션에서 γe는 0이라 가정했다.

챔버 내의 가스 유동에 대한 나비에-스토크스 방정식은 다음과 같이 표현된다[14].

(9)
(ρu)=0
(10)
ρut+ρ(u)u=[pI+μ(u+(u)T)23μ(u)I]

여기서 ρ, u, p, T, μ는 각각 밀도, 속도 벡터, 압력, 절대온도, 뉴턴 유체의 동적 점도를 나타낸다.

표 1에는 반응 종이 표시되어 있다. Ar/O2 가스 혼합물의 화학반응을 설명하기 위해 8가지 다른 종을 고려했다. 산소 음이온의 대부분은 O- 이온이 차지하므로, 이 시뮬레이션 모델에서는 O- 이온만 포함했다. 시뮬레이션에 사용한 화학 반응은 총 32개이며, 표 2를 통해 확인할 수 있다. 표 2 화학반응식의 Rate coefficient는 Ref[15-16]를 참고하였으며 Cross section과 Arrhenius 함수로 나타내었고 여기서 σ(E), Te, Tg 는 각각 Cross section, 전자 온도, 가스 온도를 의미한다. 벌크 플라즈마에서 생성된 모든 이온과 여기 종은 벽 경계 조건에서 중성화된다.

표 1 시뮬레이션에 사용된 화학종

Table 1 Overview of plasma species used in simulation.

전다 & 이온

중성종

여기종

e, Ar+, O-

O+, O2+

Ar, O, O2

Ar(4s), O(1D) O2(a(1g), O2* O2(vib)

표 2 시뮬레이션에 사용된 화학 반응

Table 2 Overview of plasma chemical reaction used in Ar/O2 CCP simulation

No.

Reaction

Rate coefficient [m3/s]

1

e+O2→O+O-

σ(E)

2

e+O2→e+O2

σ(E)

3

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

4

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

5

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

6

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

7

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

8

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

9

e+O2→e+O2(vib)

σ(E)

10

e+O2→e+O2(a1 g)

σ(E)

11

e+O2→e+O2*

σ(E)

12

e+O2→e+O2*

σ(E)

13

e+O2→e+O+O

σ(E)

14

e+O2→e+O+O(1D)

σ(E)

15

e+O2→e+O2

σ(E)

16

e+O2→2e+O2+

σ(E)

17

e+O→e+O

σ(E)

18

e+O→e+O(1D)

σ(E)

19

e+O→e+O

σ(E)

20

e+O→2e+O+

σ(E)

21

e+Ar→e+Ar

σ(E)

22

e+Ar→e+Ar(4s)

σ(E)

23

e+Ar(4s)→e+Ar

σ(E)

24

e+Ar→2e+Ar+

σ(E)

25

e+O-→2e+O

σ(E)

26

e+O-→2e+O

5.47×1014T0.324eexp(2.98/Te)

27

O++O2→O+O2+

2.0×1017(300[K]/Tg)0.5

28

O-+O+→O+O

4.0×1014(300[K]/Tg)0.45

29

O-+O2+→O+O+O

2.6×1014(300[K]/Tg)0.44

30

O-+O2+→O+O2

2.6×1014(300[K]/Tg)0.44

31

O-+O→e+O2

3.0×1014

32

O-+Ar+→O+Ar

4.0×1014(300[K]/Tg)0.43

2.2 시뮬레이션 결과

PECVD 공정에 있어서 증착 압력은 박막 성장률에 큰 영향을 준다. 전원 전극에 50[W]의 파워를 인가하고, 혼합 가스 비율은 Ar:O2=90:10으로 고정한 상태에서 시뮬레이션을 진행했다. 그림 2그림 3에서는 압력이 증가함에 따라 전자 밀도가 증가하고 전자 온도는 감소하는 경향을 확인할 수 있다. 압력이 증가하면서 평균 자유 행로가 짧아지며, 전자와 중성자 사이의 잦은 충돌로 인해 전자의 가속 시간과 거리가 감소하게 된다. 이에 따라 고에너지 전자의 수가 줄어들고, 높은 임계 에너지가 있어야 하는 해리 반응은 감소하게 된다.

그림 2. 압력 변화에 따른 정규화된 전자 밀도

Fig. 2. Comparision of normalized electron densities at different gas pressures

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig2.png

그림 3. 압력 변화에 따른 정규화된 전자 온도의 비교

Fig. 3. Comparision of normalized electron temperatures at different gas pressures.

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig3.png

그림 4 (a), (b), (c), (d)는 각각 압력이 증가함에 따라 O+, O-, O2+, Ar+ 최대 이온의 밀도를 나타낸다. 그림 4 (b), (d)는 150[mTorr]를 기점으로 밀도가 감소하고 그림 4 (a)(c)는 각각 200[mTorr], 100[mTorr]를 기점으로 감소하는 경향을 나타낸다.

그림 4. 가스 압력 변화에 따른 중성종과 이온의 최대 밀도 (a) O+, (b) O-, (c) O2+, (d) Ar+, and (e) O, O2, Ar

Fig. 4. The variation in maximum densities of main ions and neutrals with increasing gas pressure (a) O+, (b) O-, (c) O2+, (d) Ar+, and (e) O, O2, Ar

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig4.png

반응 20. e+O → 2e+O+

O+ 이온의 주된 생성 반응은 표 2의 20번 반응이다. 압력이 증가함에 따라 충돌이 늘어나면서 전자의 가속 시간과 거리가 감소하여 고에너지 전자들이 줄어들고, 이에 따라 이온화 에너지가 13.618[eV]인 반응 20의 발생 빈도가 감소하게 된다. 따라서 압력이 증가함에 따라 O+ 이온의 밀도도 감소하는 것으로 나타난다.

반응 16. e+O2 → 2e+O2+

반응 27. O++O2 → O+O2+

O2+ 이온의 주요 생성 반응은 표 2의 16번 및 27번 반응이다. 16번 반응의 경우, 이온화 에너지가 12.06[eV]로 높아 반응 확률이 떨어지게 된다. 또한, 앞서 언급한 바와 같이 O+ 이온의 감소에 따라 27번 반응 확률도 감소하게 된다.

반응 1. e+O2 → O+O-

반응 28. O-+O+ → O+O

반응 29. O-+O2+ → O+O+O

O- 이온의 경우 표 1의 1번 반응이 주된 반응이다. 1번 반응은 해리 부착 반응으로 해리 반응은 고에너지가 필요한 반응이며 압력이 증가함에 따라 반응 확률이 떨어지며 주요한 O- 이온 소멸 반응인 28, 29번 반응도 O2+ 이온의 감소로 인해 그 발생 빈도가 줄어들어 O2+ 이온의 밀도 감소에 비해 O- 이온의 감소 기울기는 완만하게 나타난다.

그림 4 (e)는 압력 증가에 따른 중성 종의 밀도를 나타내며 압력이 증가함에 중성 종의 밀도가 증가한다.

그림 5는 가스 압력이 낮을수록 O 원자의 밀도가 낮고 챔버 벽 부근으로 더 넓게 분포하는 것을 보여준다. 이는 O 원자의 확산 계수가 100[mTorr] 기준 0.48[m2/s]로 300[mTorr]에서의 0.08[m2/s]보다 높으며, 압력이 낮을수록 평균 자유 행로가 길어져 O 원자가 챔버 벽으로 더 많이 확산하기 때문이다.

그림 6은 정규화된 O- 이온의 밀도 분포를 나타낸다. 앞서 그림 4에서 설명했듯이, O- 이온의 밀도는 압력에 따라 증가하다 150[mTorr]를 기점으로 감소하는 경향을 보인다. 또한 압력이 증가할수록 챔버 중심부의 O- 이온의 밀도 분포가 충돌이 많아짐에 따라 넓어지는 것을 확인할 수 있다.

그림 5. 가스 압력 변화에 따른 O 밀도 분포

Fig. 5. O density distribution with pressure variation

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig5.png

그림 6. 가스 압력 변화에 따른 정규화된 O- 밀도 분포

Fig. 6. Normalized O- density distribution with varing gas pressure

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig6.png

다음으로, 압력을 150[mTorr]로 고정하고 산소의 몰 분율을 10%-50%로 증가시키며 시뮬레이션을 진행했다.

그림 7의 전자와 O- 이온의 밀도 변화를 보면 O2 몰 분율이 증가함에 따라 전자의 밀도와 O- 이온 밀도가 모두 감소하는 것을 확인할 수 있다. 전자의 밀도가 감소하는 이유는 강한 전기 음성도를 가진 O2의 밀도가 증가하고 O2가 전자와 만나 음이온을 발생시키는 해리 부착 반응이 증가하기 때문이다. 이에 따라 음이온의 밀도는 증가해야 하지만 실제로는 미세하게 감소하고 있다. 이는 그림 7의 O+, O2+를 보면 알 수 있듯이 O2 몰 분율이 증가함에 따라 O2+ 이온의 밀도가 증가하는 것과 관련이 있다.

반응 29. O-+O2+ → O+O+O

반응 30. O-+O2+ → O+O2

특히 표 2의 29, 30번 반응에서 나타난 바와 같이 O2+와의 재결합 반응이 급격히 증가하면서 O- 이온의 밀도가 감소하게 된다. O2 몰 분율이 증가할수록 충돌 및 반응 확률이 높아지며 이로 인해 탈착 반응으로 생성된 O- 이온이 양이온, 특히 O2+ 이온과의 재결합의 증가로 인해 O- 이온의 밀도가 감소하는 것으로 판단된다. 또한 Ar+ 이온 밀도도 감소하게 되는데, 이는 Ar 밀도가 감소하고 전자의 밀도 또한 감소하여 표 2의 24, 25 반응에서 Ar+ 이온의 생성이 감소하기 때문이다.

그림 7. O2 몰 분율 변화에 따른 전자와 이온의 최대 밀도 (a) 전자, (b) O+, (c) O2+, (d) O-, (e) Ar+

Fig. 7. Maximum density of electrons and ions as a function of O2 mole fraction: (a) Electron, (b) O+, (c) O2+, (d) O-, (e) Ar+

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig7.png

그림 8. O2 몰 분율 변화에 따른 챔버 중앙에 수직(r 방향)방향의 밀도 (a) 전자, (b) O+, (c) O2+, (d) O-, (e) Ar+

Fig. 8. Density profiles in the vertical (r-direction) at the center of the chamber as a function of O2 mole fraction: (a) Electron, (b) O+, (c) O2+, (d) O-, (e) Ar+

../../Resources/kiee/KIEE.2025.74.3.477/fig8.png

반응 24. e+Ar → 2e+Ar+

반응 25. e+Ar(4s) → 2e+Ar+

그림 8은 챔버 중앙에서 수직(r-방향) 방향의 밀도를 나타낸다. 앞서 설명한 바와 같이, 그림 8 (a)(e)에서는 O2의 몰 분율이 증가함에 따라 밀도가 감소하는 경향을 보인다. 반면, 그림 8 (b)(c)의 경우에서는 밀도가 증가하는 경향을 확인할 수 있다.

반응 29. O-+O2+ → O+O+O

반응 30. O-+O2+ → O+O2

O2 방전에서 O2+ 이온와 O- 이온은 전자와 함께 준중성 벌크 플라즈마 영역을 형성한다. 또한 주요 소멸 반응은 표 2의 29, 30번 반응으로, 이 반응들은 수직(r-방향) 방향의 O2+와 O- 이온의 밀도 경향을 결정한다. 그림 8 (c)에서 r=0[mm]에서 r=40[mm] 지점까지 O2+ 이온의 밀도가 증가함에 따라, 그림 8 (d)에서 O2의 몰 분율이 0.1, 0.2, 0.3일 때의 O2+ 밀도 그래프를 따라 증가하는 것으로 판단된다[17].

3. 결 론

이번 연구에서는 Ar/O2 용량 결합형 플라즈마 압력 및 O2 몰 분율에 따른 특성 조사를 위한 2차원 유체 시뮬레이션을 수행했다. 압력이 150[mTorr]를 초과할 때 압력이 증가함에 따라 평균 자유 행로가 짧아지며 전자의 가속 시간과 거리가 감소하며 고에너지 전자 수가 줄어들고 이에 따라 이온의 생성 반응이 감소한다. 또한 이온 간 재결합 반응이 증가하여 결과적으로 이온의 밀도가 감소한다. 산소 원자의 경우 확산 계수가 감소하여 챔버 벽쪽으로 확산이 줄어드는 것을 확인하였다. 증착 공정에 있어서 라디칼과 이온의 상호작용은 증착된 박막의 두께, 균일성, 조성 및 기계적, 전기적 성질을 결정하는 데 중요한 요소다. 라디칼과 이온의 밀도가 높을수록 박막의 화학적 활성화가 증가하고 박막 증착의 반응 속도가 증가하는 것에 기여한다. 이온 종의 밀도가 가장 높았던 압력을 150[mTorr]으로 고정한 후 O2의 몰 분율을 증가시켰을 때 O- 이온의 생성이 증가하지만, O2+와 O+ 이온의 밀도는 증가하여 재결합 반응 빈도가 증가하여 O- 이온이 감소하는 양상을 보였다. 또한 O2+와 O- 이온은 준중성 플라즈마 벌크 영역을 형성하는데 주요하기 때문에 해당 이온들의 밀도 분포가 유사한 경향을 보여준다.

공정 측면에서는 O2의 몰 분율이 낮을 때 이온 및 전자 분포의 균일성이 향상될 가능성이 있다는 점에서, 가스의 상호작용과 공정 조건을 최적화하는데 참고 자료가 될 수 있다. 다만 시뮬레이션은 실제 플라즈마에서 발생하는 모든 화학반응을 완벽히 대변하지 못하므로, 추후 시뮬레이션과 실험의 비교 연구를 진행할 예정이다.

Acknowledgements

이 과제는 부산대학교 기본연구지원사업(2년)에 의하여 연구되었음

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저자소개

장민우(Min-U Jang)
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인제대학교 나노융합공학부 졸업(2023). 현재: 부산대학교 대학원 전기전자공학과 재학 중. 연구 분야: 플라즈마 기반 반도체 공정 장비 개발. 플라즈마 시뮬레이션.

차주홍(Ju-Hong Cha)
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부산대학교 전기전자공학과 졸업(2013). 동 대학원 전기컴퓨터공학과 졸업(공학석사, 2015). 동 대학원 전기공학과 졸업(공학박사, 2021). 현재: 경상국립대학교 반도체공학과 조교수. 연구 분야: 플라즈마 장비 및 공정개발. 플라즈마 유체 시뮬레이션 . CCP, ICP, MWP 장비개발. 플라즈마 식각 공정 개발.

이호준(Ho-Jun Lee)
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서울대학교 공대 전기공학과 졸업(1989). 동 대학원 전기공학과 졸업(석사, 1991). 동 대학원 전기공학부 졸업(공학박사, 1996). 현재: 부산대 공대 전기공학과 정교수. 연구 분야: 플라즈마 기반 반도체. 디스플레이 장비 및 공정개발. 플라즈마 시뮬레이션. 전력반도체 설계 및 공정개발.

Tel : 051-510-2301

E-mail : hedo@pusan.ac.kr