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  1. (Dept. of Electrical Engineering, Myongji University, Korea.)



Digital substation, Digital twin, IEC61850, IED, MU

1. 서 론

현대의 디지털 변전소는 국제 표준 IEC61850에 따라 운영되고 있다. IEC61850은 변전소 자동화를 위한 통신규약 및 시스템 표준으로써 Edition 2.0으로 개편되어 변전소뿐만 아니라 유틸리티 전반으로 범위가 확장되어 새로운 데이터 통신 서비스가 제시되고, Edition 1.0에서 변전 자동화 시스템의 상호운용성 확보에 부족한 부분이 보완되었으며 이를 기반으로 하는 제품이 시장에 출시되고 있다. IEC61850의 주 특징으로는 XML을 기반으로 한 SCL(Substation Configuration Language)의 사용으로 시스템 엔지니어링이 단순하다는 점이 있고, 구조 및 통신 방법의 표준화를 통한 상호운용성의 확보 등이 있다(1).

최근 국내 전력회사인 한국전력공사는 2013년부터 신규 154kV 변전소를 대상으로 디지털 변전소 구축을 진행하여 2020년 1월 기준 약 60개소의 디지털 변전소를 운전중에 있으며 2034년까지 기존에 운영 중인 기설변전소를 디지털 변전소로 전환하는 것을 목표로 디지털 전환을 진행하고 있다(2). 전 세계적으로도 신설 변전소뿐만 아니라 기설변전소에 대한 디지털 전환을 통해 변전소 디지털화가 확대되는 추세이다. 이에 따라 디지털 변전소 운영의 신뢰성 향상을 위해 보호 IED (Inteligent Electronic Device) 각각에 대한 보호 적정성 평가뿐만 아니라 디지털 변전소 전체에 대한 보호 적정성 상시평가에 대한 필요성이 확대되고 있다(3). 일반적으로 기설변전소에서는 보호 IED의 정정 값을 결정한 이후에는 변전소 전체에 대한 보호 적정성을 평가하지 않고 보호시스템을 운영하고 있으므로 전력계통의 상태변화가 변전소 보호시스템에 반영되지 않는 문제점이 있다.

본 논문에서 제안하는 방안은 현실 세계의 기계나 장비 등을 컴퓨터 속 가상세계에 구현하여 모의실험 및 정보취득이 가능한 디지털 트윈 기술을 적용함으로써 별도의 설비 없이 보호 적정성 상시평가가 가능하게 하는 방법이다. 현재 디지털 변전소 기기들의 디지털 트윈에 관한 연구가 활발히 이루어 지고 있으며, 본 논문은 디지털 변전소의 보호적정성 평가를 위한 디지털 트윈을 제시하였다(4). 이를 위해 디지털 변전소를 PSCAD를 이용하여 트윈 계통 모델링을 수행하고 디지털 변전소에서 상호운용성 확보를 위해 장치들 사이의 정보교환을 IEC61850 기반으로 개발하였고, 정밀한 시각 동기를 위해 IEEE1588 PTP를 적용하여 디지털 변전소의 트윈 모델링을 수행하였다(5). 본 논문에서 제안하는 방안을 154kV 모의 계통에서의 전력계통의 상태변화가 생겼을 때 계전기의 오/부동작을 확인하여 제안 방식의 적정성을 검증하였다.

2. 본 론

2.1 IEC61850

디지털 변전소에서 상호운용성 확보를 위해 IEC61850을 적용한 것처럼 디지털 트윈 모델의 장치들 사이에서 일어나는 정보교환을 IEC61850 기반으로 개발함으로써 디지털 트윈 모델의 상호운용성을 확보하였다. 상호운용성 확보로 인해 디지털 트윈 모델의 지속적인 활용이 용이해지고 신규장치 도입을 대비하여 신규장치에 대한 디지털 트윈 장치를 모델링하여 디지털 트윈에 문제없이 연계를 가능토록 할 수 있다.

IEC61850 통신 프로토콜을 사용하기 위해서는 DataSet 설정이 필요하다. IEC 61850 표준은 데이터 모델을 계층적으로 구성하고 있으며, 하나의 IED 내에는 PHD(Physical Device), LD (Logical Device), LN(Logical Node), DO(Data Object), DA(Data Attribute) 순서로 구성되며 데이터 교환을 위한 최소 단위는 Logical Node이다. Logical Node는 기능에 따라 분류가 되어 있으며 본 논문에서의 Logical Node 구성은 그림 1과 같다. MU(Merging Unit)에서는 CT, PT의 샘플링 값 LN인 TCTR, TVTR을 사용하여 SV데이터 포맷으로 전류 및 전압의 순시값을 IED에 전송한다. IED는 3상 전류 및 전압 관측 데이터 LN인 MMXU, 과전류 보호 LN인 PTOC와 거리계전 보호 LN인 PDIS, 차단기 동작 LN인 PTRC를 사용하였다. Logical Node의 세부 내용은 IEC 61850-7-4에 의해 정의되어 있다(6).

그림. 1. Logical Node의 구성도

Fig. 1. Configuration diagram of Logical Node

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2.2 IEC61850 기반 디지털 변전소

디지털 변전소는 과거 변전소 운영시스템이 전기적 신호를 기반으로 하여 1:1의 장치 간 연결 관계를 갖고 전력 설비를 단독으로 운전하는 방식이 아니라, IED의 정보 공유를 기반으로 하여 하나의 시스템으로 동작하는 것을 중요한 특징으로 하고 있다. 또한 변압기, 송전선로 등 전력 설비를 감시, 계측, 제어, 보호하기 IED를 중심으로 하고 네트워크 시스템을 통한 변전소를 운영하는 상위 시스템 간에 데이터를 공유하는 자동화 시스템을 갖추고 있다. 그림 2의 디지털 변전소 시스템의 구성도와 같이 디지털 변전소는 Station Level, Bay Level, Process Level이라 불리는 3개의 레벨과 Station Bus, Process Bus라 불리는 2개의 통신 네트워크로 구성된다(7,8).

그림. 2. 디지털 변전소 시스템의 구성도

Fig. 2. Configuration diagram of digital substation system

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2.2.1 트윈 Merging Unit

MU는 전력계통의 고장 발생 시, 전력 설비의 보호 및 제어 동작 수행을 위해 CT(Current Transformer)와 PT(Potential Trans- former)의 전류, 전압 아날로그신호를 디지털 신호로 변환하여 실시간 데이터를 전송하는 장치이다. 이때 전류, 전압의 아날로그신호를 IEC 61850 9-2의 SV(Sampled Value) 데이터 포맷으로 전송하며, 데이터 모델로는 TCTR과 TVTR의 LN을 사용한다. MU는 SV패킷 지연 및 손실 없이 안정적인 프로세스 버스 기반의 통신을 위해 usec단위의 정밀한 시각 동기 기능이 필요하며 이를 위해 시각동기화 프로토콜인 IEEE 1588 PTP(Precision Time Protocol)을 적용하였다.

2.2.2 트윈 IED

IEC 61850 기반 IED 제작을 위해 내부 맵핑을 위한 Logical Node의 Instance 선언 및 Dataset 설계와 GoCB(Goose object Control Block)설정등의 작업을 진행하였고, SCD파일 내 Inputs 영역의 Extref의 설계를 하였다. 본 논문에서 모의한 고장 시나리오에는 송전선로 보호용 거리계전기와 배전선로 보호용 반한시 과전류계전기를 설계하였다. 또한 IED내의 데이터 모델로 전압과 전류의 3상 데이터는 MMXU, 거리계전기는 PDIS, 과전류계전기는 PTOC LN을 각각 사용하였고, MU로부터 각 전압과 전류의 순시 값을 수신하여 페이저 연산 이후 고장 판단을 하고 Trip 신호를 GOOSE로 송신한다.

2.2.3 디지털 트윈 모델링

디지털 트윈은 물리적 세계와 동일한 디지털 쌍둥이를 만드는 것으로 물리적 자산의 상태를 피드백하는 동적인 모델이다. 나아가 현실 세계의 물리적 자산에 부착된 센서를 통해 수집된 데이터를 가상에서 분석, 시뮬레이션을 통해 이를 현실 세계에 반영할 수도 있다. 본 논문은 그림 3과 같이 디지털 변전소 시스템을 디지털 트윈 모델링하여 가상 환경을 구성하고 고장 시나리오를 통해 분석, 시뮬레이션을 진행하였다. 본 논문에서의 디지털 트윈 모델의 가상변전소는 PSCAD를 사용하여 모의 계통을 모델링하고, 트윈 MU와 트윈 IED는 SISCO 사의 MMS Ease Lite Library 6.2 ver 툴을 사용하여 설계하였다. 각 장치들간의 통신으로 TCP/IP 통신과 IEC61850 통신이 사용된다.

그림. 3. 디지털 변전소의 디지털 트윈 모델

Fig. 3. Digital twin model of digital substation

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2.3 IEEE 1588 PTP

IEC 61850 9-3 에서는 IEEE 1588 PTP를 전력계통의 기준시간 동기화 프로토콜로서 제시하고 있으며, 이를 전력계통에 적용하기 위해서 IEEE C37.238에 따라 시간동기화 시스템 구성이 필요하다(9),(10). PTP는 네트워크 간 정확한 동기화를 가능하게 하는 표준 시간 전송프로토콜로서, 일반적으로 PTP 방식을 이용하면 정밀한 타임 스탬프를 사용하여 수 나노초 이하로 측정된 값을 기록하는 것이 가능하고 기존의 네트워크 시각 프로토콜 NTP(Network Time Protocol)보다 더욱 정밀한 동기 성능을 제공한다.

PTP를 이용하여 Slave clcok을 Master clock에 동기시키기 위해서는 둘 사이에 동기 메시지 교환이 필요하다. 동기 메시지의 교환은 그럼4처럼 나타난다.

이때 Master clock에 대한 Slave clock의 시각 차이 $\Delta MS$는

(1)
$\Delta MS = t_{2}- t_{1}= T_{offset}+ T_{delay}$

식(1)과 같이 나타낼 수 있고, $T_{offset}$은 Master clock에 대한 종속 클락의 위상 오프셋이고 $T_{delay}$는 전송지연이다. 또한 Slave clock에 대한 Master clock의 시각차이 $\Delta SM$은 다음과 같이 표현할 수 있다.

(2)
$\Delta SM = t_{4}- t_{3}= -T_{offset}+ T_{delay}$

식(1)식(2)를 사용하여 요구되는 클락 오프셋과 전송지연의 값은

(3)
$T_{offset}=(\Delta MS -\Delta SM)/2$

(4)
$T_{delay}=(\Delta MS +\Delta SM)/2$

식(3)식(4)와 같이 구해지며 이 값들을 보상해 줌으로써 동기를 이루게 된다.

PTP를 적용한 디지털 변전소의 Process Level 검증을 위해 IEEE std C37.112에서 제공하는 반한시 과전류 계전기의 동작 특성 그래프를 비교 검증하였다. 동작 특성식은 식(5)처럼 나타난다(11).

(5)
$t(I)=\dfrac{0.0515}{M^{0.02}-1}+ .0114$

그림. 4. PTP 타임스탬프 개념도

Fig. 4. Diagram for PTP Timestamps

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2.4 거리계전기의 리액턴스 효과

거리계전 알고리즘의 고장 판단은 선로 임피던스와 송전선로의 길이가 비례하는 것을 이용하여 이루어진다. 송전계통이 복잡해지면서 중 조류가 흐르는 송전 구간의 평균 길이가 짧아짐에 따라 고장저항과 부하전류의 결합 효과에 의해 측점 임피던스가 영향을 받는 리액턴스 효과에 의한 계전기 성능저하는 큰 문제점이다.

그림. 5. 고장 모의 계통

Fig. 5. Failure simulation system

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그림 5와 같은 양단 전원 계통을 살펴보면, 고장 발생 지점으로 흐르는 고장전류와 계전기 설치 점의 전압 전류는 아래와 같다.

(6)
$V_{app}= m Z_{L}(I_{S}+ I_{S0}(Z_{L0}/ Z_{L1}- 1))+ R_{F}I_{F}$

(7)
$I_{app}= I_{S}+ I_{S0}(Z_{L0}/ Z_{L1}- 1)$

따라서, 계전기에서 측정되는 임피던스는 다음과 같이 표현된다.

(8)
$Z_{app}=\dfrac{V_{app}}{I_{app}}=m Z_{L}+R_{F} | \dfrac{I_{F}}{I_{S}+I_{S0}(Z_{L0}/Z_{L}-1)} | e^{j\alpha}$

그림 6은 측정임피던스를 R-X 평면에 나타낸 것으로 $\alpha > 0$이면 언더리치(Underreach)하고, $\alpha < 0$이면 오버리치(Overreach)하게 되므로 리액턴스 검출 요소에 기울기를 사용한다.

그림. 6. 리액턴스 효과에 따른 임피던스

Fig. 6. Impedance as a result of reactance effect

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3. 사례연구

3.1 모의 계통 모델링

본 논문에서 제안된 디지털 변전소의 보호 적정성 문제 해결을 위한 디지털 트윈을 이용한 상시평가기술을 검증하기 위해 PSCAD를 이용해 그림 7과 같은 모의 계통을 모델링 하였다. 대상 계통의 송전선 양단을 154[kV] 테브난 등가 전원으로 구성하였으며 계통의 설비별 파라미터는 표 1과 같다. 또한 전력계통의 상태변화를 일으키기 위해 전원임피던스의 값을 변수로 설정하여 전원임피던스의 크기가 2배일 때와 1/2배 일 때의 상황을 구성하였다.

그림. 7. PSCAD 기반 모의 계통

Fig. 7. PSCAD based simulation system

../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.1.055/fig7.png

표 1. 시험 모의 계통 파라미터

Table 1. Simulation system parameters

Category

data(%Z, 100MVA Base)

전원단

Source 1

R1+jX1

0.081+j 0.866

R0+jX0

0.384+j 1.956

Source 2

R1+jX1

0.213+j 1.568

R0+jX0

0.939+j 4.581

송전선로

T/L #1

R1+jX1

0.459+j 3.635

R0+jX0

2.514+j 11.017

Rm+jXm

2.054+j 5.943

Y1

j 2.979

선종/긍장

A410B/25.991km

$CT : 2000 / 5 A$

PT : $\dfrac{154k V}{\sqrt{3}}$ / $\dfrac{110V}{\sqrt{3}}$

3.2 시험 결과

디지털 변전소에 대한 보호 적정성 상시평가 기술을 위해 설계한 디지털 트윈 환경의 검증을 위와 같은 계통에서 전원임피던스가 변경되었을 때의 계전기 오/부동작 모의시험을 진행하였다. 또한 IEEE 1588 PTP를 적용한 MU 및 IED의 검증을 위해 반한시 과전류계전기 모의시험을 진행하였다.

3.2.1 PTP 적용 여부에 관한 결과 비교

디지털 변전소에 대한 디지털 트윈 환경에 IEEE 1588 PTP 적용 여부에 대한 시험을 통해 반한시 과전류계전기 동작 특성 그래프를 확인하였고, 모의 결과는 그림 8과 같다. 본 시험에서는 IEEE std C37.112에서 제공하는 동작 특성 그래프와 PTP를 적용하였을 때, PTP를 적용하지 않았을 때의 세 가지의 경우를 비교하였다.

PTP를 적용하였을 경우의 시각 동기 오차는 최대 209ns, 평균 0.99ns였다. Sample에 따른 시각 동기 오차는 그림 9와 같고 모의시험의 결과를 통해 시각 동기 오차가 적어짐에 따라 계전기의 오/부동작의 감소를 확인하였다.

그림. 8. 동작 특성 비교 그래프

Fig. 8. Comparison of characteristic curve

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그림. 9. 시각 동기 오차

Fig. 9. 시각 동기 오차

../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.1.055/fig9.png

3.2.2 전력계통의 상태변화에 따른 계전기 오/부동작

전력계통의 상태변화를 전원임피던스의 변경으로 고려하고, 기존 계통의 전원임피던스일 때, 전원임피던스가 기존의 1/2배 일 때, 전원임피던스가 2배 일 때의 상황에서 시험을 진행하였다. 모의 조건으로는 각 상황에서 모두 동일하게 A상 지락 고장 상황이었고, 다른 조건으로는 고장저항: 0~11 [ohm], 고장 거리: 0.1~0.7 [pu]로 진행하였다. 거리계전기의 Zone1의 동작영역은 75%로 설계하였다.

그림 10에서 고장저항 11[ohm], 고장 거리가 0.7[pu]일 때 기존 전원임피던스의 크기인 그림 10 (a)처럼 동작을 하지만 그림 10 (b)와 같이 전원임피던스의 크기가 증가함에 따라 거리계전기가 부동작 함을 확인할 수 있다. 그러므로 전원임피던스 크기에 따라 리액턴스 요소 정정 값의 수정이 필요하다. 또한 이를 통해 IED의 정정 값 결정 이후에 변전소 전체에 대한 보호 적정성 평가의 필요성을 확인하였다.

그림. 10. 전원임피던스 변화에 따른 측정 임피던스 결과

Fig. 10. Results of measurement impedance with the variation of source impedance

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4. 결 론

본 논문에서는 디지털 변전소의 디지털 트윈 환경에서 전력계통 상태의 변화가 생겼을 때 계전기의 오/부동작을 확인하여 디지털 변전소에 대한 보호 적정성 상시평가 방식을 제안하였다. 본 논문에서 제안한 디지털 트윈 모델은 PSCAD를 이용한 모의 계통을 모델링하고 MU와 IED에 대한 디지털 트윈 모델을 개발하였다. 각 트윈 기기들의 지속적인 활용을 위해 IEC61850 기반으로 개발하여 상호운용성을 확보하였고, GOOSE, SV통신을 이용하였다. 트윈 모델의 검증을 위해 거리 계전 알고리즘과 과전류 보호 알고리즘을 적용한 모의 시험을 통해 트윈 모델을 이용한 보호적정성 평가를 진행하여 트윈 모델의 타탕성을 검증하였다.

추후 MU, IED, RTDS(Real Time Digital Simulator)를 이용한 HILS를 수행하여 RTDS를 이용한 실시간 모의 결과와 디지털 트윈 모의 결과를 비교하여 제안 방식의 적정성을 검토하고자 한다.

Acknowledgements

This research was supported by Korea Electric Power Corporation under Grant R17XA05-2. This research was also supported by the Korea research foundation with funding from government (Ministry of Education) in 2019 (No. NRF-2019R1F1A1059619).

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A. K., K. B. S., V. Kulakarni, 2019, Digital Twin Ranorex Test Automation of SIPROTEC 5 Protection Devices, 2019 3rd International conference on Electronics, Vol. communi- cation and aerospace technology (iceca), pp. 955-958DOI
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11 
2018, IEEE Std C37.112: IEEE Standard for Inverse-Time Characteristic Equations for Overcurrent RelaysGoogle Search

저자소개

하광민(Kwang-Min Ha)
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He received a bachelor’s degree in electrical engineering from Myongji University, South Korea, in 2020, He is currently studying for a master’s degree at Myongji University.

His main research interests are power system protection and Automation.

남순열(Soon-Ryul Nam)
../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.1.055/au2.png

He received the B.S, M.S and Ph.D degree in electrical engineering from the Seoul National University, South Korea in 1996, 1998, and 2002.

Currently, he is Professor of electrical engineering at Myonji University and interests include Power System Protection, Control and Automation.

Tel: 031-330-6361

E-mail: ptsouth@mju.ac.kr

김수환(Su-Hwan Kim)
../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.1.055/au3.png

He received a bachelor’s degree in electrical engineering from Myongji University, South Korea, in 2019, He is currently studying for a master's degree at Myongji University.

손규원(Gyu-Won Son)
../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.1.055/au4.png

He received a bachelor’s degree in electrical engineering from Myongji University, South Korea, in 2020, He is currently studying for a master's degree at Myongji University.