์ฒ์ฐฝ์
(Changyeong Cheon)
*iD
๊นํ๋
(Hyeondo Kim)
**iD
๊น๋ช
์ง
(Myungchin Kim)
โ iD
-
(Ph.D. course, Department of Electrical Engineering, Chungbuk National University,
Korea)
-
(Master course, Department of Electrical Engineering, Chungbuk National University,
Korea)
Copyright ยฉ 2026 KIIEE All right's reserved
Key Words
Bio-epoxy composites, Epoxidized soybean oil (ESO), Statistical analysis
1. ์ ๋ก
1.1. ์ฐ๊ตฌ์ ํ์์ฑ
๊ณ ์ ์ ์ ๋ ฅ์ค๋น์ ์ ์ฐ์ ์ํด์ ์ฌ์ฉ๋๋ ์ ์ฐ๋ฌผ์ ์ฐ์ํ ์ ์ฐ ํน์ฑ, ๋ด์ด์ฑ ๋ฐ ํํ์ ์์ ์ฑ์ ์ง๋ ์ํญ์ ์์ง์ด๋ค[1]. ์ด๋ฌํ ์ํญ์ ์์ง๋ ์ด๊ฒฝํ์ฑ(Thermosetting)์ผ๋ก ๊ณ ์จ ํ๊ฒฝ์ ๋
ธ์ถ๋๋ ๊ฒฝ์ฐ ํ์ ๋ถ์ฐ๋ฌผ์ ๋ฐฐ์ถํ์ฌ ํ๊ฒฝ ์ค์ผ ๋ฌธ์ ๋ฅผ ์ ๋ฐํ๋ค. ๋ฐ๋ผ์
์ด๋ฌํ ๋ฌธ์ ๋ฅผ ํด๊ฒฐํ๊ธฐ ์ํด ๋
ธ๋ ฅํ๊ณ ์๋ค.
์ฌํ์ฉ ๋ถ๊ฐํ ๊ธฐ์กด์ ์์ ๊ณ ์ํญ์ ์์ง์ ์ฌ์ฌ์ฉํ ์ ์๋ ์นํ๊ฒฝ ์์ง๋ฅผ ํผํฉํ์ฌ ์์ง ๋ชจ์ฒด(Matrix)๋ก ํ์ฉํ๋ ค๊ณ ์๋ํ๊ณ ์๋ค. ํนํ, ๋๋์ ,
์ฅ์์์ ๋ฑ ์๋ฌผ์ฑ ๊ธฐ๋ฆ์ ๊ธฐ์กด ์์ง์ ํฉ์ฑํ๋ ค๋ ์์ฉ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ๊ตญ๋ด์ธ๋ก ํ๋ฐํ ์งํ๋๊ณ ์๋ค. ๋ค์ํ ์๋ฌผ์ฑ ๊ธฐ๋ฆ ์ค์์ ์ํญ์ํ ๋๋์ (ESO: Epoxidized
Soybean Oil)๊ฐ ๊ฒฝ์ ์ฑ ์ธก๋ฉด์์ ์ ๋ ดํ๊ณ , ์ ์ฐํ๊ณ ๊ธด ๋ถ์ ์ฌ์ฌ์ ํํ์ ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ์ง๋ฏ๋ก ์ฃผ๋ชฉ๋ฐ๊ณ ์๋ค. ๋ํ, ์์ ๊ณ ์ํญ์ ์์ง์ ํผํฉํ๋ฉด
์ ๋๋ฅผ ๋ฎ์ถ๊ณ , ๊ฐ์์ ์ญํ ์ด ๊ฐ๋ฅํด ์ํญ์ ์์ง๊ฐ ์ง๋ ์ทจ์ฑ(Brittleness)์ด ์ฝํ ๋ฌธ์ ๋ฅผ ํด๊ฒฐํ ์ ์๋ค.
์ ํ์ฐ๊ตฌ [2]๋ ์์ ์์ ๊ธฐ๋ฐ์ ๊ธฐ์กด ์ํญ์ ์์ง(DGEBA: Diglycidyl Ether of Bisphenol A)์ ESO๋ฅผ ๋ค์ํ ๋น์จ๋ก ํผํฉํ์ฌ ์ ์๋
๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ์์ง์ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ๊ณผ ์ด์ ํน์ฑ์ ๋ถ์ํ์๋ค. ESO ์์ง์ ํจ๋๋น๊ฐ 30 wt%๊น์ง ์ฆ๊ฐํจ์ ๋ฐ๋ผ์ ์ด์ ์์ ์ฑ์ ๋ฏธ์ธํ ๋ณํ์ ๊ธฐ๊ณ์
ํน์ฑ์ ๊ฐ์ ์ ํ์ธํ์๋ค. ๋ํ, Hong et al. [3]์ ESO๋ก ๊ฐ์ง๋ ์ํญ์ ์์ง์ ํน์ฑ์ผ๋ก ์ด์ /๊ธฐ๊ณ์ ๋ฌผ์ฑ๋ฟ๋ง ์๋๋ผ, SEM ์ด๋ฏธ์ง ๋ถ์์ ํตํด ESO ํจ๋ ์ฆ๊ฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ๋ชจํด๋ก์ง ๋ณํ๋ฅผ ํ์ธํ์๋ค.
์ต๊ทผ์๋ ๋ฐฐ์ ์ฉ ์ค์ ๊ธฐ๊ธฐ์ ์ ์ฉํ๊ธฐ ์ํด ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ์ ๋ถ์ํ ์ฐ๊ตฌ๋ ์๋ค. Jeon et al. [4]์ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ์์ง์ ์ ๊ธฐ์ ์ ์ฐ์ฑ ๋ฐ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ์ด ์ฐ์ํด ์ ๋ ฅ์ค๋น ์ํญ์ ์ ์ฐ๋ฌผ์ ์ฃผ๋ก ์ฒจ๊ฐ๋๋ ํ๋ฉด์ด ๊ฐ์ง๋์ง ์์ ๋ง์ดํฌ๋ก ์ค๋ฆฌ์นด(SiOโ)
65 wt%๊ฐ ํจ์ ๋ ๋ณตํฉ์ฒด๋ฅผ ์ ์กฐํ์ฌ, HVAC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ๊ณผ ์ฃผํ์ ๋ณํ์ ๋ฐ๋ฅธ ์ ์ ์จ, ์ ์ ์์ค, ์ ๊ธฐ์ ๋๋๋ฅผ ํ๊ฐํ์๋ค.
์ด์ฒ๋ผ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด๋ฅผ ์ ๋ ฅ์ค๋น ์ ์ฐ๋ฌผ๋ก ์ ์ฉํ๊ธฐ ์ํด์ ๋ค์ํ ์ฑ๋ฅ์ ๊ฒ์ฆํ๊ณ ์๋ค. ํ์ง๋ง ๋๋ถ๋ถ์ ์ฐ๊ตฌ๋ ์ด์ ํน์ฑ๊ณผ ๊ธฐ๊ณ์ ํน์ฑ ๋ถ์
๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ณด๊ณ ํ๊ณ ์์ผ๋ฉฐ, ์ ๊ธฐ์ ์ ์ฐ ํน์ฑ์ ๋ํ ์ฐ๊ตฌ ๊ฒฐ๊ณผ๋ ์๋์ ์ผ๋ก ์ ํ๋ ์ค์ ์ด๋ค.
1.2. ์ฐ๊ตฌ์ ๋ชฉ์ ๋ฐ ๋ฐฉ๋ฒ
ํ์ ๋ฐฐ์ถ๋ ์ ๊ฐ์ ์ํด์ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด๋ฅผ ์ ๋ ฅ์ค๋น ์ ์ฐ๋ฌผ๋ก ์ ์ฉํ ์ ์๋๋ก ์ ๊ธฐ์ ์ ์ฐ ์๋ช
์ ๋ถ์ํ๊ณ ์ ํ๋ค. IEC(International
Electro technical Commission) ๊ท๊ฒฉ์ ๊ธฐ๋ฐ์ผ๋ก ํ์ฌ, ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์์ ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ(์ ์ ์จ, ์ ์ ์์ค, ์ ๊ธฐ์ ๋๋)๊ณผ AC ๋จ์๊ฐ
์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ํ๊ฐํ์๋ค. ๊ฐ์์ดํ์ํ(AST: Accelerated Stress Test)์ ํตํด ์ฅ์๊ฐ ์ดํ์ ๋ฐ๋ฅธ ์ ์ฐ์ฑ๋ฅ ๋ํ ํ๊ฐํ์๋ค.
AC ๋จ์๊ฐ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ๊ณผ ์ ์ฐ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ๋ ํต๊ณ์ ๋ถํฌ๋ฅผ ํ์ฉํ์ฌ ๋ถ์ํ์๋ค. ์คํ ๋ฐ์ดํฐ์ ๋ถ์ฐ์ฑ ๋ฑ์ ํ์ธํ๊ธฐ ์ํด์ ์ ๊ท ๋ถํฌ ๋ฒ์น์ ๋ง์กฑํ๋์ง
ํ์ธํ์๊ณ , ๊ณ ์ ์ ๋ถ์ผ์์ ๋ง์ด ์ฌ์ฉ๋๋ ๋์์ ๊ท๋ถํฌ, Weibull ๋ถํฌ, ์ง์ ๋ถํฌ, ๊ฐ๋ง ๋ถํฌ๋ฅผ ํ์ฉํ์ฌ ๋ถํฌ ์ ํฉ์ฑ ๊ฒ์ ์ ์ํํ์๋ค. ์ด๋ฅผ
ํตํด, ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์ ์ฐ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ ๋ถ์์ ๊ฐ์ฅ ์ ํฉํ ํต๊ณ์ ๋ถํฌ๋ฅผ ์ ์ ํ๊ณ ์ ํ๋ค.
2. ํต๊ณ์ ๋ถ์ ๋ฐฉ๋ฒ
2.1. ํต๊ณ์ ๋ถํฌ ๋ถ์
์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก ๊ณ ์ ์ ์คํ์ ์ํ ์ฅ๋น, ์จยท์ต๋ ํ๊ฒฝ ๋ฑ ๋ค์ํ ์์ธ์ ์ํด์ ์คํ ๊ฒฐ๊ณผ๊ฐ ์์ดํด์ง๋ค[5]. ๋ฐ๋ผ์ ๊ณ ์ ์ ์คํ ๋ฐ์ดํฐ๋ ํต๊ณ์ ๋ถํฌ ๊ฒ์ ์ด ์๊ตฌ๋๋ค[6,
7]. ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด ์ํธ์ AC ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ ๋ถ์์ ์ํํ๊ณ ์ ์ ๊ท ๋ถํฌ์ Weibull ๋ถํฌ ๋ฒ์น์ ๋ฐ๋ฅด๋์ง ํ์ธํ์๋ค.
์ ๊ท ๋ถํฌ๋ ์ธก์ ๋ ์คํ๊ฐ๋ค์ด ์ด๋ป๊ฒ ๋ถํฌํ๋์ง ๋ํ๋ด๋ ํ๋ฅ ํจ์๋ก, ๊ด์ธก์น์ ๋์นญ์ฑ ํ์ธ์ ์ ์ฉํ ๋ถํฌ์ด๋ค. ์ด ๋ถํฌ์์ ์ค์ํ ๋ชจ์๋ ํ๊ท ๊ณผ
ํ์คํธ์ฐจ์ด๋ค. ์ ๊ท์ฑ ๊ฒ์ ์ ์ํด์ Shapiro-Wilk[8], Kolmogorov-Smirnov[9] ๋ฐฉ๋ฒ์ ์ฌ์ฉํ์๋ค.
Shapiro-Wilk ๋ฐฉ๋ฒ์ ๊ด์ธก์น๋ค์ด ์ ๊ท ๋ถํฌ๋ฅผ ๋ฐ๋ฅด๋์ง ํ๊ฐํ๋ ๊ฐ์ฅ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ๋ฐฉ๋ฒ์ด๋ค. ํนํ, ํ๋ณธ์ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ์์ ๊ฒฝ์ฐ ํจ๊ณผ์ ์ด๋ค. Kolmogorov-Smirnov
๋ฐฉ๋ฒ์ ์ด๋ก ์ ๋ถํฌ์ ๊ฒฝํ์ ๋์ ๋ถํฌํจ์(ECDF: Empirical Cumulative Distribution Function)๋ฅผ ๋น๊ตํ์ฌ ๊ด์ธก์น
๋ถ์์ ์ฌ์ฉ๋ ๋ถํฌ๋ฅผ ๋ฐ๋ฅด๋์ง ํ์ธํ๋ค.
Weibull ๋ถํฌ๋ ์๋ก ๋ค๋ฅธ ๋น์จ์์ ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ ๋ฐ์ํ๋ ํ๋ฅ ๊ฒฐ์ ์ ์ ์ฉํ๋ฉฐ, ์ ๋ ฅ์ค๋น ๋๋ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์๋ช
์ถ์ ์ ๋๋ฆฌ ํ์ฉ๋๋ค[10]. ์ด ๋ถํฌ๋ ์ฒ๋ ๋ชจ์(Scale Parameter)์ ํ์ ๋ชจ์(Shape Parameter)๋ฅผ ๊ฐ์ง๋ฉฐ, ๋ ๋ชจ์๋ฅผ ํ์ฉํ์ฌ ํต๊ณ์ ๋ถ์์ ์ํํ๋ค.
์ ๊ท ๋ถํฌ ๋ฐ Weibull ๋ถํฌ ๋ฒ์น ๊ฒ์ ์์ ์ ๋ขฐ๊ตฌ๊ฐ(CI: Confidence Interval)์ 95%๋ก ํ์๋ค. ๋ฐ๋ผ์, ๊ด์ธก์น๊ฐ ๋ ๋ถํฌ๋ฅผ
๋ง์กฑํ๋์ง๋ ํต๊ณ์ ์ ์์ฑ์ธ p-value๋ฅผ ์ ์์์ค(Significance Level) 0.05์ ๋น๊ตํ์ฌ ๊ฒฐ์ ํ์๋ค. p-value โค 0.05์ธ
๊ฒฝ์ฐ, ๊ท๋ฌด๊ฐ์ค(์ฆ, ๊ด์ธก์น๊ฐ ์ ๊ท/Weibull ๋ถํฌ๋ฅผ ๋ฐ๋ฅธ๋ค๋ ๊ฐ์ค)์ ๊ธฐ๊ฐ๋๋ค. ์ด๋ ์ธก์ ์น๊ฐ ๋ถํฌ ๋ฒ์น์ ๋ถํฉํ์ง ์์์ ์๋ฏธํ๋ค. ๋ฐ๋๋ก,
p-value > 0.05์ธ ๊ฒฝ์ฐ๋ ๊ท๋ฌด๊ฐ์ค์ด ์ฑํ๋๋ฉฐ, ์ด๋ ๊ด์ธก์น๊ฐ ๋ถํฌ ๋ฒ์น์ ๋ง์กฑํจ์ ์๋ฏธํ๋ค.
2.2. ๋ถํฌ ์ ํฉ์ฑ ๊ฒ์
Anderson-Darling[11] ๋ฐฉ๋ฒ์ ์ด์ฉํ์ฌ AST์์ ํ๋ํ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ ๋ถ์์ ์์ด ๊ฐ์ฅ ์ ์ ํ ํต๊ณ์ ๋ถํฌ ๋ชจ๋ธ์ ์ ํจ์ฑ์ ๊ฒํ ํ์๋ค. ๊ณ ์ ์ ๊ณตํ ๋ถ์ผ๋ ๊ณ ์ฅ ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ
ํต๊ณ ๋ถ์ํ ๋ ์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก ๋์ ์ ๊ท ๋ถํฌ, ์ง์ ๋ถํฌ, ๊ฐ๋ง ๋ถํฌ, Weibull ๋ถํฌ๊ฐ ์ ์ฉ๋๋ค[5]. ๋ฐ๋ผ์, ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ AST์์ ๊ธฐ๋ก๋ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ๋์์ผ๋ก ๋์ ์ ๊ท ๋ถํฌ, Weibull ๋ถํฌ, ์ง์ ๋ถํฌ, ๊ฐ๋ง ๋ถํฌ๋ฅผ ์ฌ์ฉํด
๋ถ์ํ๊ณ , ์ด ๊ณผ์ ์์ ๊ฐ์ฅ ์ ํฉํ ๋ถํฌ๋ ๊ฒ์ ํต๊ณ๋ AD์ p-value๋ฅผ ๋น๊ตํ์ฌ ์ ์ ํ์๋ค.
3. ์ํ ์ํธ ๋ฐ ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ ๋ถ์ ๋ฐฉ๋ฒ
3.1. ์ํ ์ํธ
DGEBA์ ESO๋ฅผ 7:3 ๋น์จ๋ก ํผํฉํ ์์ง์ ๊ฒฝํ์ , ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ๋ง์ดํฌ๋ก ํฌ๊ธฐ SiOโ 65 wt%๋ก ๊ตฌ์ฑ๋ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด๋ฅผ ์ํ ์ํธ์ผ๋ก
์ฌ์ฉํ์๋ค. DGEBA์ ESO์ ๊ฐ ๋น๋์ 184~190 g/eq, 232 g/eq์ด๋ฉฐ, ์์จ์์์ ๊ฐ ์ ๋๋ 11,500~13,500 cPs,
310 cPs์ด๋ค. ๊ฒฝํ์ ๋ ์ฐ๋ฌด์๋ฌผ๊ณ์ธ NH-2200์, ๊ฒฝํ ์ด์ง์ ๋ Benzyldimethylamine(BDMA)์ ์ฌ์ฉํ์๋ค. Fig. 1์ ์ํ ์ํธ์ ํ์์ ๋ํ๋ด๋ฉฐ, ํ ๋ณ์ ๊ธธ์ด๊ฐ 100mm์ธ ํํ ํ์ ์ํธ์ผ๋ก ํ๊ท ๋๊ป๋ ์ฝ 2mm์ด๋ค.
Fig. 1. Bio-epoxy micro-composites
3.2. ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ ์ธก์
IEC 62631-2์ ๊ท๊ฒฉ์ ๋ฐ๋ผ AC ๊ณ ์ ์(1kV, 60Hz)์ ์ธ๊ฐํ์ฌ ์ ์ ์จ๊ณผ ์ ์ ์์ค์ ์ธก์ ํ์๋ค. ์ํ ์ฅ๋น๋ก Fig. 2์ ๋ํ๋ธ Fully Automatic Capacitance and Loss Factor tanฮด Precision Measuring Bridge(Tettex)๋ฅผ
์ฌ์ฉํ์๋ค. Type 2914 ์ฅ๋น์ ์ํ ์ํธ์ ๊ณ ์ ์ํค๊ณ , Type 2818A ์ฅ๋น๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์ ์ ์จ๊ณผ ์ ์ ์์ค ๊ฐ์ ๊ธฐ๋กํ์๋ค.
๋ํ, ์ ๊ธฐ์ ๋๋ ์ธก์ ์ ์ํด Fig. 3์ Tektronix ์ฌ์ 6485 Picoammeter Current Measurement์ DC ๊ณ ์ ์์ ์ธ๊ฐํ์ฌ ์ฒด์ ๋์ค์ ๋ฅ(Volume Leakage
Current)๋ฅผ ์ธก์ ํ์๋ค. ์ธก์ ์ ์์จ์์ ์งํํ๋ค.
Fig. 2. Relative permittivity and dielectric loss tangent measuring device
Fig. 3. Volume leakage current measuring device
3.3. ๋จ์๊ฐ ์ ์ฐํ๊ดด์คํ
Fig. 4๋ ๋จ์๊ฐ ์ ์ฐํ๊ดด์คํ์ ๊ตฌ์ฑ๋๋ฅผ ๋ํ๋ธ๋ค. AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ ์ธก์ ์ ์ํด์ AC ๊ณ ์ ์ ๋ฐ์๊ธฐ, ์คํ ์ ๊ทน์ผ๋ก ๊ตฌ์ฑํ์๋ค. ์คํ ์ ๊ทน์ ํ์์ IEC
60243-1์ ๊ท๊ฒฉ์ ๋ฐ๋ผ์ ์ค๊ณ๋์์ผ๋ฉฐ, ์คํ ๋์ค์ ๋ฐ์ํ ์ ์๋ ์ฐ๋ฉด ๋ฐฉ์ ์ ์ต์ํํ๊ธฐ ์ํด์ ์ํธ์ด ์์นํ ์ ๊ทน์ ์ฃผ๋ณ ๋งค์ง๋ก ๊ด์ ๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์๋ค.
๋จ์๊ฐ ์ ์ฐํ๊ดด์คํ์ 10~20 sec ์ฌ์ด์ ๋ฐ์ํ๋๋ก ์ ์์ 2kV/sec ์๋๋ก ์์น์์ผ, ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ ๋ฐ์ํ๋ ์ ์์ ๊ธฐ๋กํ์๋ค. ์ด ์ํ์
๋จ์๊ฐ ํ๊ดด ์คํ(RT: Ramp Test)์ด๋ผ๊ณ ํ๋ค.
RT์์์ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ Weibull ๋ถํฌ๋ก ๋ถ์ํ์ฌ ์ป์ ์ฒ๋ ๋ชจ์์ 40%์ ํด๋นํ๋ ๊ฐ์ ์ด๊ธฐ ์ ์์ผ๋ก ์ค์ ํ๊ณ , IEC 60243-1 ๊ท๊ฒฉ์
ํ๋ฅผ ์ฐธ๊ณ ํ์ฌ 60 sec ๊ฐ๊ฒฉ์ผ๋ก 0.5kV์ฉ ์ฆ๊ฐํ์ฌ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ๊ธฐ๋กํ์์ผ๋ฉฐ, ์ด๋ฅผ ๊ณ๋จ์ ํ๊ดด ์คํ(ST: Step-up Test)์ด๋ผ๊ณ
ํ๋ค. 60 sec ST์์์ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ Weibull ๋ถํฌ ๋ถ์์ ํตํด์ ์ป์ ์ฒ๋ ๋ชจ์์ 40%์ ํด๋นํ๋ ๊ฐ์ ์ด๊ธฐ ์ ์์ผ๋ก ํ์ฌ 10min
๊ฐ๊ฒฉ์ผ๋ก 0.5kV์ฉ ์ ์์ ์น์ํ์ฌ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ ๊ธฐ๋กํ์๋ค. ๋์ผํ ๋ฐฉ์์ผ๋ก ์ด๊ธฐ ์ ์์ ์ค์ ํ 30min ๊ฐ๊ฒฉ์ผ๋ก 0.5kV์ฉ ์ฆ๊ฐํ์ฌ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์
๊ธฐ๋กํ์๋ค. 30min ST์์์ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์์ Weibull ๋ถํฌ ๋ถ์ ํ ๋์ถ๋ ์ฒ๋ ๋ชจ์๋ณด๋ค ์์ ๊ฐ์ผ๋ก AST์ ์ ์์ ์ ์ ํ๋ค.
Fig. 4. Diagram of experiment for AC breakdown test
3.4. ๊ฐ์์ดํ์ํ
AST๋ฅผ ํตํด ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ํ๋ํ์๋ค. AST๋ฅผ ์ํ ์ํ ํ๋ก์ ๊ตฌ์ฑ์ Fig. 5์ ๋์ํ์๋ค.
๋จ์๊ฐ ์ ์ฐํ๊ดด์คํ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก๋ถํฐ ์ ํ AST์ ์ด๊ธฐ ์ ์์ ์ผ์ ํ๊ฒ ์ธ๊ฐํ์๊ณ , ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์ ์ฐํ๊ดด๋๋ ์์ ์ ๋ฆด๋ ์ด๋ก ํ์ธํ์๋ค. ๋ํ,
์ ์ฐํ๊ดด ์๊ฐ(์๋ช
๋ฐ์ดํฐ)์ ํ์ด๋จธ๋ฅผ ํตํด ๊ธฐ๋กํ์๋ค.
Fig. 5. Accelerated stress test set-up
4. ์คํ ๊ฒฐ๊ณผ
4.1. ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ ๋ถ์
Table 1์ ์คํ์์ ์ฌ์ฉ๋ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด ์ํธ์ ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก 15ํ์ฉ ์ธก์ ํ์๋ค. ์ ์ ์จ์ ๊ฒฝ์ฐ ํ๊ท 3.92์ ๊ฐ์ ๋ํ๋ด์๊ณ , ์ด ๊ฐ์
๋ฌธํ [4]์์ ์ธก์ ๋ ESO๊ฐ 30 phr ๋ค์ด๊ฐ ์ํธ์ ์ ์ ์จ๊ณผ ์ ์ฌํ๋ค.
์ํ์ ์ฌ์ฉ๋ ์ํธ์ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ์์ง์ SiOโ๊ฐ ์ฒจ๊ฐ๋ ๋ณตํฉ์ฒด๋ก, ์ ์ ์จ์ ์ (1)๋ก ๊ณ์ฐํ ์ ์๋ค[12].
์ฌ๊ธฐ์ $\epsilon_C$๋ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์ ์ ์จ์ด๋ฉฐ, $v_R$์ $v_F$๋ ๊ฐ๊ฐ ๋ณตํฉ์ฒด์์ ์ฐจ์งํ๋ ์์ง์ ํ๋ฌ์ ๋ถํผ ๋น์ด๋ค($v_R + v_F
= 1$). $\epsilon_R$๊ณผ $\epsilon_F$๋ ๊ฐ๊ฐ ์์ง์ ํ๋ฌ์ ์ ์ ์จ์ ์๋ฏธํ๋ค. ์์ํ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ์์ง์ ์ ์ ์จ์ ์ฝ 3.0,
SiOโ์ ์ ์ ์จ์ 4.5์ด๋ค. ์ํธ์ ์ฒจ๊ฐ๋ ์์ง์ ํ๋ฌ์ ๋ฐ๋๋ฅผ ๋ฐ์ํ์ฌ ์ง๋๋น๋ฅผ ๋ถํผ ๋น๋ก ํ์ฐํ์ฌ ๊ณ์ฐํ๋ฉด ์ฝ 3.98๋ก ์ธก์ ๋ ๊ฒฐ๊ณผ์ ๊ทผ์ฌํ
๊ฐ์ ๋ณด์ธ๋ค.
์ด๋ฌํ ์ ์ ์จ์ ๋ถ๊ทน ํ์๊ณผ๋ ๊ด๋ จ๋์ด ์๋ค. ์ (2)๋ ๋ถ๊ทน๊ณผ ์ ์ ์จ์ ๊ด๊ณ๋ฅผ ๋ํ๋ธ๋ค.
์ด๋, $\epsilon_0$๋ ์ง๊ณต์ ์ ์ ์จ(8.854 ร 10โปยนยฒ F/m), $\epsilon_r$์ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์ ์ ์จ, $\chi_e$๋ ์ ๊ธฐ
๊ฐ์์จ, E๋ ์ธ๊ฐ ์ ๊ณ, ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ P๋ ๋ถ๊ทน์ด๋ค.
์ ์ ์จ์ด ๋์ ๊ฒฝ์ฐ์ ๋ถ๊ทน ํ์์ด ์๋์ ์ผ๋ก ์ฝ๊ฒ ๋ฐ์ํ๋ฉฐ, ์ด์ ๋ฐ๋ผ ๊ณ ์ ์์ด ์ธ๊ฐ๋๋ฉด ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ ๋ด๋ถ์์ ์ ๊ณ์ ์ง์ ์ด ๋นจ๋ผ์ง๋ค. ์ฆ, ์ ์ ์จ์ด
๋์์๋ก ์ ์ฐํ๊ดด๊ฐ ๋ ์ฝ๊ฒ ๋ฐ์ํ ์ ์์ผ๋ฉฐ, ์ด๋ฅผ ๊ณ ๋ คํ์ฌ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ํ๊ฐํด์ผ ํ๋ค.
์ ์ ์์ค์ ํ๊ท 0.0318๋ก ์ธก์ ๋์๋ค. ์ ์ ์์ค์ ์ ์ฐ ์ง๋จ ํ๊ฐ ์์ ์ค ํ๋๋ก ์ ๊ธฐ์ ์ ์ฐ ์๋ช
๋์ถ ์ ํ์ฉํ๊ธฐ๋ ํ๋ค. ์ ์ ์์ค์ ๋ณต์์ ์ ์จ($\epsilon_r^*$)์์
์ค์๋ถ($\epsilon_r'$)์ ํ์๋ถ($\epsilon_r''$)์ ๋น์จ๋ก ํํ๋๋ค.
์ (4)๋ฅผ ํตํด์ ์ ์ ์์ค์ด ํฌ๋ฉด ์ ๋ ์ ๋ฅ๊ฐ ๋ง์ด ํ๋ฅด๋ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ณผ ์ ์๋ค. ์ด๋ ์ ๊ธฐ์ ๋๋์ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ํฌ๋ค๋ ๊ฒ์ ์๋ฏธํ๋ค.
์ผ๋ฐ์ ์ผ๋ก ๊ณ ๋ถ์ ์ ์ฐ์ฌ๋ฃ์ ์ ์ ์์ค์ 0.01๋ณด๋ค ์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ์ ์ ์์ค์ 0.0318๋ก ํฌ๊ฒ ์ธก์ ๋์๋ค. ์ด๋ ์ ๊ธฐ์ ๋๋ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ 2.5 ร
10โปยนยฒ S/cm๋ก ์ํญ์์ ํ๊ท ์ ์ธ ์ ๊ธฐ์ ๋๋๋ณด๋ค ๊ฐ์ด ํฐ ๊ฒ์ด ๊ธฐ์ธํ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก ํ๋จ๋๋ค.
Table 1. Electrical properties of the bio-epoxy composites
|
Classification
|
Average Value
|
|
์ ์ ์จ
|
3.92
|
|
์ ์ ์์ค
|
0.0318
|
|
์ ๊ธฐ์ ๋๋ [S/cm]
|
2.5 ร 10-12
|
4.2. AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ
AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ๊ฐ ์ํ์์ ํ๋ํ ์ ์ฐํ๊ดด์ ์ $V_{BD}$์ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ๋๊ป $t_{BEC}$๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ๊ณ์ฐํ์๋ค.
AC ๋จ์๊ฐ ์ ์ฐํ๊ดด์คํ์ผ๋ก๋ถํฐ ํ๋ํ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ Fig. 6์ ๋ํ๋ด์๋ค. AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ RT๊ฐ 22.96kV/mm๋ก ๊ฐ์ฅ ๋์๊ณ , 30min ST์์ ์ฝ 13.51kV/mm๋ก ๊ฐ์ฅ ๋ฎ์๋ค. ํด๋น ๊ฒฐ๊ณผ๋
์ ์์ ์ธ๊ฐํ๋ ์๊ฐ์ด ๊ธธ์ด์ง์๋ก ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ด ๊ฐ์ํจ์ ๋ณด์ฌ์ค๋ค. ์ด ๊ฒฐ๊ณผ์์ RT์ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ๊ฐ ST์์์ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ๊ณผ ๋ฌ๋ฆฌ ๋น๊ต์ ํฐ ํธ์ฐจ๋ฅผ ๋ณด์๋ค.
3.1์ ์์ ์ํ ์ํธ์ ํ๊ท ๋๊ป๋ฅผ 2mm๋ก ์ ์ํ์์ผ๋, ์ค์ ์ธก์ ๋ ์ํ ์ํธ์ ๋๊ป๋ 1.98~2.06 ๋ฒ์์ ๋ณ๋์ ๋ณด์๋ค. ์ด์ ๋ฐ๋ผ ์ํธ์
๋๊ป ์ํฅ์ ๋ฌด์ํ๊ธฐ ์ด๋ ต๋ค. ๋ํ, RT์ ๊ฒฝ์ฐ ์ ์์ ์ธ๊ฐ ์๋๊ฐ ๋ ๋น ๋ฅด๋ฏ๋ก, ์ ์ฐํ๊ดด ๊ฐ์ ๊ณผ์ ์์ ํ์ํ ์ ํ ์ฃผ์
๋ฐ ์ ์์ฌํ ํ์ฑ ๊ณผ์ ์ด
์ฆ์ ์๋ฃ๋์ง ๋ชปํด ์ ์ฐํ๊ดด ์์ ์ด ์ง์ฐ๋๋ Time-lag ํ์์ ๊ธฐ์ธํ ๊ฒ์ผ๋ก ํ๋จ๋๋ค[13].
๋ํ, Table 2 ๋ฐ 3์ ๊ฐ ์คํ ๋ฐฉ๋ฒ์ ๋ํ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ ๊ฐ์ ๋ํด ์ํํ ์ ๊ท์ฑ ๊ฒ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ์์ฝํ๋ค. Table 2๋ Shapiro-Wilk ๋ฐฉ๋ฒ์ ์ด์ฉํ ์ ๊ท์ฑ ๊ฒ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ, Table 3์ Kolmogorov-Smirnov ๋ฐฉ๋ฒ์ ์ด์ฉํ์ฌ ์ ๊ท์ฑ ๊ฒ์ ํ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ณด์ฌ์ค๋ค. ๊ฒ์ ํต๊ณ๋(Shapiro-Wilk: W, Kolmogorov-Smirnov:
KS)๊ณผ ๊ฐ ๋ฐฉ๋ฒ์ ๋ํ p-value, ์ ๊ท ๋ถํฌ๋ฅผ ๋ง์กฑํ๋์ง์ ๋ํ ์ฌ๋ถ๋ฅผ ๊ฐ Table์ ํ๊ธฐํ์๋ค. ๋ ๋ฐฉ๋ฒ์ ์ด์ฉํ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ์ ๊ท์ฑ
๊ฒ์ ๊ฒฐ๊ณผ, ๋ชจ๋ ์คํ ๊ฒฐ๊ณผ์์ p-value > 0.05๋ฅผ ๋ง์กฑํ์๋ค. ์ด ๊ฒฐ๊ณผ๋ ๋ชจ๋ ์คํ๊ฐ์ด ์ ๊ท ๋ถํฌ๋ฅผ ๋ฐ๋ฅธ๋ค๋ ๊ฒ์ ์๋ฏธํ๋ค.
Table 2. Shapiro-Wilk test of compliance with normal distribution
|
Test Type
|
W
|
p-value
|
Conformity
|
|
RT
|
0.977
|
0.706
|
Accepted
|
|
60 sec ST
|
0.983
|
0.753
|
Accepted
|
|
10 min ST
|
0.944
|
0.544
|
Accepted
|
|
30 min ST
|
0.992
|
0.831
|
Accepted
|
Table 3. Kolmogorov-Smirnov test of compliance with normal distribution
|
Test Type
|
KS
|
p-value
|
Conformity
|
|
RT
|
0.237
|
>0.150
|
Accepted
|
|
60 sec ST
|
0.226
|
>0.150
|
Accepted
|
|
10 min ST
|
0.274
|
>0.150
|
Accepted
|
|
30 min ST
|
0.207
|
>0.150
|
Accepted
|
Table 4. Hypothesis test of compliance with Weibull distribution
|
Test Type
|
AD
|
p-value
|
Conformity
|
|
RT
|
0.260
|
>0.250
|
Accepted
|
|
60 sec ST
|
0.297
|
>0.250
|
Accepted
|
|
10 min ST
|
0.354
|
>0.250
|
Accepted
|
|
30 min ST
|
0.282
|
>0.250
|
Accepted
|
Table 4๋ ๋ค์ํ ์คํ ๋ฐฉ๋ฒ์์์ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ๋ํ Weibull ๋ถํฌ ๋ถ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ์์ฝํ๋ค. Anderson-Darling ๋ฐฉ๋ฒ์
ํ์ฉํ์ฌ Weibull ๋ถํฌ๋ก ๋ถ์ํ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ AD ํต๊ณ๋๊ณผ p-value๋ฅผ ๋์ถํ์๋ค. ๊ฐ ์คํ ๋ฐฉ๋ฒ์์ ํ๋ํ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ p-value
> 0.250์ด๋ฏ๋ก, ์ ์์์ค 0.05์ ๋นํด ํฌ๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ๋ชจ๋ ์คํ์์์ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ Weibull ๋ถํฌ ๋ฒ์น๋ ์ ๋ฐ๋ฅธ๋ค๋ ๊ฒ์ ์๋ฏธํ๋ค.
ํต๊ณ ๋ถ์์ R๊ณผ Minitab ์ํํธ์จ์ด๋ฅผ ์ด์ฉํด ์ํํ์๋ค.
ํํธ, ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ๋ ํ๊ฒฝ ์ค์ผ ๋ฌธ์ ๋ฅผ ์ํํ๊ธฐ ์ํด์ ๋ฐ์ด์ค ๊ธฐ๋ฐ ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์ ์ฐ์ฑ๋ฅ์ ํ๊ฐํ์๋ค. ํ์ง๋ง ํ์ฌ ์ ๋ ฅ์ค๋น์๋ ์์ฉ ์ํญ์ ์ ์ฐ์ฌ๊ฐ
์ฃผ๋ก ์ฌ์ฉ๋๊ณ ์์ผ๋ฏ๋ก, ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์๋ก์ ๋์ฒด ๊ฐ๋ฅ์ฑ์ ๊ฒํ ํ๊ธฐ ์ํด์๋ ๊ธฐ์กด ์ํญ์์์ ์ ์ฐ ํน์ฑ ๋น๊ต๊ฐ ํ์์ ์ด๋ค. ๋ฌธํ [14]์์๋ ์์ฉ ๊ณ ์ ์์ฉ ์ํญ์์ ๋ง์ดํฌ๋ก ์ค๋ฆฌ์นด๋ฅผ 40~70 wt% ์ฒจ๊ฐํ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ ๋ถ์ํ์์ผ๋ฉฐ, ๋ง์ดํฌ๋ก ์ค๋ฆฌ์นด ํจ์ ๋์ด 60~70 wt%์ธ
์กฐ๊ฑด์์ RT๋ก ์ธก์ ๋ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ(์ฒ๋ ๋ชจ์)์ 25.9~26.75kV/mm๋ก ๋ณด๊ณ ๋์๋ค.
๋ฐ๋ฉด, ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์ RT๋ก ์ธก์ ๋ AC ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ(์ฒ๋ ๋ชจ์)์ ๊ฒฝ์ฐ 23.74kV/mm๋ก, ๊ธฐ์กด ์์ฉ ์ํญ์ ๋๋น ์ฝ 8.3~11.3% ๋ฎ์ ๊ฐ์
๋ณด์๋ค. ๋ค๋ง, ์ด๋ฌํ ์ฐจ์ด๋ ์ธก์ ์กฐ๊ฑด, ์ค๋ฆฌ์นด ํน์ฑ, ์ํ ์ ๊ทน, ์ํธ ์ ์กฐ ์กฐ๊ฑด ๋ฑ ๋ค์ํ ์ธ๋ถ ์์ธ์ ์ํด ์ถฉ๋ถํ ๋ฐ์ ๊ฐ๋ฅํ ๋ฒ์์ด๋ค. ๋ฐ๋ผ์
ESO ์ฒจ๊ฐ์ ์ํ ์ ์ฐ์ฑ๋ฅ ์ ํ๋ก ๋จ์ ํ๊ธฐ๋ ์ด๋ ต๋ค. ์ค์ ๋ก, ๋ฌธํ [14]๋ 1kV/sec์ ์ ์ ์์น๋ฅ ์ ์ ์ฉํ ์คํ์ด๋ฏ๋ก ์ธก์ ์กฐ๊ฑด ์ฐจ์ด๊ฐ ์กด์ฌํ๋ฉฐ, ๋ณธ ๋น๊ต๋ ์๋์ ์ผ๋ก ๋จ๊ธฐ๊ฐ ์ํ๋ RT ๊ฒฐ๊ณผ์ ํ์ ๋์ด ์๋ค. ๋ฐ๋ผ์
ST ๋ฐ AST ๋ฑ ์ฅ๊ธฐ ์ ์ฐ ์ ๋ขฐ์ฑ ๊ฒ์ฆ์ ์ํ ํ์ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ํ์ํ๋ค.
Fig. 6. AC breakdown strength of the short-time test
4.3. ๊ฐ์์ดํ์ํ ๋ฐ์ดํฐ ๋ถ์
4.2์ ๊ณผ ์ ์ฌํ๊ฒ AST ๊ฒฐ๊ณผ ํ๋ํ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ์ ๋ํ ํต๊ณ ๋ถ์์ ์ํํ์๋ค. 30min ST์์์ ์ ์ฐ๋ด๋ ฅ์ด 13.51kV/mm์ธ ์ ์ ๊ณ ๋ คํ์ฌ,
๊ทธ๋ณด๋ค ๋ ๋ฎ์ ์ ๊ณ์ธ 12.5kV/mm๊ฐ ์ธ๊ฐ๋๋๋ก AC ๊ณ ์ ์ ๋ฐ์๊ธฐ์ ์ ์์ ์ค์ ํ์๋ค.
AST ์ ์ ์ฐ์ฑ๋ฅ ๋ถ์์ ์ํด์ ํต๊ณ์ ๋ถํฌ(๋์ ์ ๊ท, Weibull, ์ง์, ๊ฐ๋ง ๋ถํฌ)๋ฅผ ์ ์ฉํ์๋ค. Table 5๋ 12.5kV/mm ์ ๊ณ๊ฐ ์ธ๊ฐ๋ ๊ณ ์ฅ ๋ฐ์ดํฐ(Complete Data)๋ฅผ ๋ถ์ํ์ฌ ๊ฐ ๋ถํฌ ๋ณ ํ๋ํ B1, B5, B10, B50์ ์์ฝํ ๊ฒ์ด๋ค.
๊ฐ ๋ถํฌ ๋ณ ๋ฐ์ดํฐ์ CI๋ 95%๋ก ํ์๋ค.
Table 6์ ๋ฐ์ดํฐ ๋ถ์์ ๊ฐ์ฅ ์ ํฉํ ๋ถํฌ ์ ์ ์ ์ํด ์ํํ Anderson-Darling ๊ฒ์ ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ์์ฝํ ๊ฒ์ด๋ค. AD ํต๊ณ๋๊ณผ p-value๋ฅผ
์ด์ฉํ์ฌ ๋ถํฌ ์ ํฉ์ฑ์ ํ์ธํ์๋ค. AD ํต๊ณ๋์ ๊ด์ธก๋ ๋ฐ์ดํฐ๊ฐ ์ด๋ ํ ๋ถํฌ์ ์ ํฉํ์ง ํ๋จํ ์ ์๋ ์งํ์ด๋ค. AD ํต๊ณ๋์ ๋์ ์ ๊ท ๋ถํฌ๊ฐ
0.399๋ก ๊ฐ์ฅ ์๊ณ , ์ง์ ๋ถํฌ๊ฐ 2.272๋ก ๊ฐ์ฅ ํฌ๋ค. ๋์ ์ ๊ท ๋ถํฌ์ ๋น๊ตํ์ฌ Weibull ๋ถํฌ๋ 0.113, ๊ฐ๋ง ๋ถํฌ์ ๊ฒฝ์ฐ 0.056์
์ฐจ์ด๋ฅผ ๋ณด์๋ค. ์ง์ ๋ถํฌ๋ ๋ค๋ฅธ ๋ถํฌ๋ค๊ณผ ๋น๊ตํ์ฌ AD๊ฐ ์๋์ ์ผ๋ก ํฐ ๊ฒฝํฅ์ ๋ณด์๋ค. ์ง์ ๋ถํฌ์ ๊ฒฝ์ฐ, ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ๊ฐ ์๊ฐ๊ณผ ๋ฌด๊ดํ ๋ฌด๊ธฐ์ต์ฑ(Memoryless
Property)์ผ๋ก ์ธํด ๊ณ ์ฅ๋ฅ ๊ณผ ์๊ฐ์ ๊ด๊ณ์ธ ์๋ช
์์กฐ๊ณก์ (Bath-tub Curve)์์ ์ฐ๋ฐ๊ณ ์ฅ(CFR: Constant Failure Rate)
์์ญ์ ์ํ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ด๋ค.
๋ถํฌ ๋ฒ์น ๊ฒ์ ๊ฒฐ๊ณผ, ๋ค๋ฅธ ๋น๊ต ๋ถํฌ๋ค๊ณผ ๋ฌ๋ฆฌ ์ง์ ๋ถํฌ๋ง ์ ์ผํ๊ฒ p-value๊ฐ ์ ์์์ค 0.05๋ณด๋ค ์์ ๊ท๋ฌด๊ฐ์ค์ด ๊ธฐ๊ฐ๋์๋ค. ๋ฐ๋ผ์, ์ง์
๋ถํฌ๋ฅผ ํ์ฉํ์ฌ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์๋ช
๋ฐ์ดํฐ ๋ถ์์ ์ํํ๊ธฐ์๋ ์ด๋ ค์์ด ์๋ค. ๋ฐ๋ฉด, ๋ค๋ฅธ ์ธ ๋ถํฌ์ ๊ฒฝ์ฐ p-value > 0.05๋ฅผ ๋ง์กฑํ์ฌ
๊ท๋ฌด๊ฐ์ค์ด ์ฑํ๋์์ผ๋ฉฐ, ์์กฐ๊ณก์ ์์ ๋ง๋ชจ๊ณ ์ฅ(IFR: Increasing Failure Rate) ์์ญ์ ์์ผ๋ฏ๋ก ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ์ ๊ธฐ์
์ ์ฐ์๋ช
๋ถ์์ ํ์ฉํ ์ ์๋ค.
๋ถํฌ ์ ํฉ์ฑ ๊ฒ์ ๊ฒฐ๊ณผ, ๋์ ์ ๊ท ๋ถํฌ์ AD ํต๊ณ๋์ด ๊ฐ์ฅ ์์ ๊ฐ์ผ๋ก ์ฐ์ถ๋์๋ค. ๋ฐ๋ผ์, ๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์ ์ฌ์ฉ๋ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด์ ๋ํ ์ฅ๊ธฐ
์ ์ฐ ์๋ช
๋ถ์์ ์ํํ ๊ฒฝ์ฐ, ๋์ ์ ๊ท ๋ถํฌ๋ฅผ ์ด์ฉํ๋ ๊ฒ์ด ์ ํฉํ ๊ฒ์ผ๋ก ํ๋จ๋๋ค.
Table 5. Percentile for each distribution
|
Bx
|
๋์ ์ ๊ท
|
Weibull
|
์ง์
|
๊ฐ๋ง
|
|
B1
|
673.01
|
666.69
|
6.8572
|
673.97
|
|
B5
|
675.72
|
672.84
|
34.997
|
676.40
|
|
B10
|
677.16
|
675.58
|
71.886
|
677.69
|
|
B50
|
682.28
|
682.80
|
472.93
|
682.28
|
Table 6. Hypothesis test of compliance with statistical distribution using AD
|
Distribution
|
AD
|
p-value
|
Conformity
|
|
๋์ ์ ๊ท
|
0.399
|
0.214
|
Accepted
|
|
Weibull
|
0.512
|
0.173
|
Accepted
|
|
์ง์
|
2.272
|
<0.003
|
Rejected
|
|
๊ฐ๋ง
|
0.455
|
>0.250
|
Accepted
|
5. ๊ฒฐ ๋ก
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์ ๋ฐ์ด์ค ์ํญ์ ๋ณตํฉ์ฒด๋ฅผ ์ ๋ ฅ์ค๋น ์ ์ฐ์ ์ฌ์ฉํ๊ธฐ ์ํด์ ์ ๊ธฐ์ ํน์ฑ ๋ฐ ์ ์ฐ์ฑ๋ฅ ๋ถ์์ ์ํํ์๋ค. ์ ์ ์จ๊ณผ ์ ์ ์์ค, ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ ๊ธฐ์ ๋๋๋
๊ธฐ์กด ๋ฌธํ์์ ๋ณด๊ณ ๋ ๊ฐ๊ณผ ์ ์ฌํ๊ฒ ์ธก์ ๋์๋ค.
์ ์ฐ์ฑ๋ฅ ๋ถ์์ ์ํด์ AC ๋จ์๊ฐ ์ ์ฐํ๊ดด์คํ ๋ฐ ๊ฐ์์ดํ์ํ์ ์ํํ๊ณ , ํต๊ณ์ ๊ธฐ๋ฒ์ ํ์ฉํด ์คํ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ถ์ํจ์ผ๋ก์จ ํต๊ณ์ ์ ์์ฑ์ ํ์ธํ๋ค.
๊ฐ์์ดํ์ํ ๊ฒฐ๊ณผ ํ๋ํ ์ ์ฐํ๊ดด ์๊ฐ ๋ฐ์ดํฐ์ ๊ฒฝ์ฐ, Anderson-Darling ๊ฒ์ ์ ํตํด์ ์ํ ์ํธ์ ์ ๊ธฐ์ ์ ์ฐ ์๋ช
์ฐ์ถ ์ ์ ์ฉํ
๊ฐ์ฅ ์ ํฉํ ํต๊ณ์ ๋ถํฌ๋ฅผ ์ ์ ํ์๋ค.
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ๋ฅผ ํตํ์ฌ ํ๋๋ ์ํ๋ฐ์ดํฐ์ ๋ํ ๋ถ์์ ํตํด ํฅํ์๋ ๋ณด๋ค ๋ค์ํ ์กฐ๊ฑด์์์ ์ฅ๊ธฐ์๋ช
์ํ์ ์ค์ํ ๊ณํ์ด๋ค. ๋ํ, ์ ๋ ฅ์ค๋น๊ฐ ์ด์ ๊ณผ์
์ค์ ๊ฒฝํํ๊ฒ ๋๋ ์ ๊ธฐ์ ๋ฐ ์ด์ ์กฐ๊ฑด์์์ ์ดํ ํน์ฑ์ ๋ถ์ ๋ฐ ์๋ช
์ฐ๊ตฌ์ ๋ํ ํ์ ์ฐ๊ตฌ์ํ์ ํตํด ๋ค์ํ ์นํ๊ฒฝ ์ ๋ ฅ์ค๋น์ ์ดํ ๋ถ์์ ํ์ฉํ
์์ ์ด๋ค.
Acknowledgements
์ด ๋
ผ๋ฌธ์ ์ ๋ถ(๊ต์ก๋ถ)์ ์ฌ์์ผ๋ก ํ๊ตญ์ฐ๊ตฌ์ฌ๋จ์ ์ง์์ ๋ฐ์ ์ํ๋ ๊ธฐ์ด์ฐ๊ตฌ์ฌ์
์(No. RS-2020-NR049604). ๋ํ, ๋ณธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฌผ์ 2025๋
๋
๊ต์ก๋ถ ๋ฐ ์ถฉ์ฒญ๋ถ๋์ ์ฌ์์ผ๋ก ์ถฉ๋ถRISE์ผํฐ์ ์ง์์ ๋ฐ์ ์ํ๋ ์ง์ญํ์ ์ค์ฌ ๋ํ์ง์์ฒด๊ณ (RISE)์ ๊ฒฐ๊ณผ์(2025-RISE-11-014-03).
References
Qiao Y., 2022, Improving thermal insulation properties of lightweight epoxy resin
matrix composites with millimeter-sized hollow glass microspheres/epoxy hollow spheres,
Energy and Buildings, Vol. 277

Woo Y. J., Kim D. S., 2019, Physical properties of a DGEBA epoxy resin system modified
with epoxidized soybean oil, Polymer(Korea), Vol. 43, No. 3, pp. 359-364

Hong Y. G., Lee S., 2024, Characteristics of eco-friendly epoxy resin modified with
epoxidized soybean oil (ESO): Thermal, mechanical, and morphological properties, Polymer(Korea),
Vol. 48, No. 2, pp. 133-141

Jeon W.-S., 2024, Electrical characteristics of DGEBA/ESBO/ Microsilica composites
for application to heavy electric power distribution equipment, The Transactions of
the Korean Institute of Electrical Engineers, Vol. 73, No. 4, pp. 690-699

Kรผchler A., 2018, High voltage engineering: Fundamentals-technology-applications,
Springer

Park K.-H., 2024, Reliability assessment of statistical distributions for analyzing
dielectric breakdown strength of polypropylene, Applied Sciences, Vol. 14, No. 1

Cheon C., Seo D., Kim M., 2024, Statistical analysis of AC breakdown performance of
Epoxy/Al2O3 Micro-Composites for high-voltage applications, Applied Sciences, Vol.
14, No. 22

Shapiro S. S., Wilk M. B., 1965, An Analysis of Variance Test for Normality (Complete
Samples), Biometrika, Vol. 52, No. 3/4, pp. 591-611

Massey F. J., 1951, The Kolmogorov-Smirnov test for goodness of fit, Journal of the
American Statistical Association, Vol. 46, No. 253, pp. 68-78

Khaled U., Beroual A., 2019, Statistical investigation of AC dielectric strength of
natural ester oil-based Fe3O4, Al2O3, and SiO2 nano-fluids, IEEE Access, Vol. 7, pp.
60594-60601

Anderson T. W., Darling D. A., 1952, Asymptotic theory of certain 'goodness of fit'
criteria based on stochastic processes, The Annals of Mathematical Statistics, Vol.
23, No. 2, pp. 193-212

Kasap S. O., 2018, Dielectric materials and insulation, Principles of Electronic Materials
and Devices, pp. 659-766, McGraw-Hill Education

Sawa G., 1986, Dielectric breakdown in solid dielectrics, IEEE Transactions on Electrical
Insulation, Vol. EI-21, No. 6, pp. 841-846

Park J.-J., 2019, Tensile and Electrical Insulation Properties of Epoxy/Micro-silica
Composites, Transactions on Electrical and Electronic Materials, Vol. 20, pp. 67-72

Biography
He received the B.S. and M.S. degrees in electrical engineering from Chungbuk National
University, Cheongju, Republic of Korea, in 2022 and 2024, respectively, where he
is currently pursuing the Ph.D. degree in electrical engineering. His research interests
include high voltage systems, asset management, and statistical analysis.
He received the B.S. degree in electrical engineering from Chungbuk National University,
Cheongju, Republic of Korea, in 2025, where he is currently pursuing the M.S. degree
in electrical engineering. His research interests include high voltage systems and
statistical analysis.
He received the B.S. and M.S. degrees in electrical engineering from Hanyang University,
Seoul, Republic of Korea, in 2004 and 2006, respectively, and the Ph.D. degree in
electrical engineering from The University of Texas at Austin, TX, USA, in 2015. From
2006 to 2017, he was with the Agency for Defense Development, Daejeon, Republic of
Korea. Since 2017, he has been with the School of Electrical Engineering, Chungbuk
National University, Cheongju, Republic of Korea, where he is currently an Associate
Professor. His research interests include high voltage systems, asset management,
and microgrids.