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Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers

ISO Journal TitleJ Korean Inst. IIIum. Electr. Install. Eng.

  1. (Pukyong National University, Interdisciplinary Program of Biomedical Mechanical & Electrical Engineering)



Vanadium Dioxide, Oscillation, Temperature Sensor, Pressure Sensor

1. 서 론

이산화 바나듐(vanadium dioxide: 이하 $VO_2$)은 열 자극으로 인해 급격한 저항 변화를 나타내는 대표적인 강상관계 물질(strongly correlated material)이다(1-2). 이러한 큰 저항의 변화는 68℃의 전이 온도(transition temperature) 부근에서 유도되는 금속 상태와 절연 상태 간 상전이(phase transition: 이하 PT)에 기인한다. 이러한 열적으로 유도되는 PT는 산화물 기반 스위칭(switching) 소자, 볼로미터(bolometer), 스마트 윈도우(smart window), 임계 온도 센서(sensors)(3) 등의 연구에 적용되어왔다. 또한, $VO_2$의 상기 특성은 물리적4 및 화학적(5) 센서를 구현하는 데에도 활용되었다. 열에 의한 PT외에도 $VO_2$는 전기장(6-7), 압력(8), 빛(9) 등과 같은 외부 자극에 의해 PT가 유도될 수 있다. 예를 들어, $VO_2$ 박막(thin film)의 양단에 금속 전극을 증착시켜 제작된 2단자 소자에 전압을 인가하면, 특정 전계 이상에서 소자에 흐르는 전류가 급격히 증가하는 전압 유도 PT가 발생할 수 있다. 이러한 2단자 소자의 전압 유도 PT는 소자의 부성 미분 저항(negative differential resistance: 이하 NDR) 특성에 의해 강한 비선형적 전류-전압(I-V) 특성을 나타낸다. 전압 유도 PT에 기인하는 이러한 비선형적 I-V 특성은 메모리 저항 소자(memristive device) 및 발진기(oscillator)와 같은 다양한 전기 및 광학 스위칭 소자에 응용될 수 있다.

특히, 상기 NDR 특성을 이용하면 유도성 및 용량성 회로 성분 없이 $VO_2$ 소자와 저항 그리고 전압원(또는 전류원)으로 구성된 간단한 폐회로에서 전압 유도 발진을 생성시킬 수 있다. 그리고, 이러한 전압 유도 발진은 소자 주변의 온도 변화(ΔT) 및 압력 변화(ΔP)와 같은 외부 섭동(perturbation)에 의해 발진 파형 변수들 즉 발진 주파수($f_o$) 및 발진 진폭($A_o$)이 변화되는 특성을 갖는다. 만약 $f_o$와 $A_o$의 온도와 압력 반응이 선형적이고 $f_o$(ΔT, ΔP)와 $A_o$(ΔT, ΔP)가 서로 독립적이라면, $f_o$ 및 $A_o$의 사전 측정된 온도 및 압력 민감도를 이용하고 온도 및 압력 변화에 의해 유도된 $f_o$ 및 $A_o$의 변화(즉 Δ$f_o$ 및 Δ$A_o$)를 측정함으로써 $VO_2$ 소자에 인가되는 온도 및 압력 변화를 동시에 예측할 수 있다.

본 논문에서는 $VO_2$ 박막 기반 2단자 소자에서 생성되는 전압 유도 발진의 온도 및 압력 반응을 소자 규모가 다른 세 소자들에 대해 분석하였다. 우선 전압 유도 발진을 생성하기 위해 2단자 $VO_2$ 소자, 외부 저항(7kΩ), DC 전압원(17V)을 직렬로 연결하여 간단한 폐회로를 구성하였다. 생성된 전압 유도 발진의 온도 및 압력 반응은 발진 파형의 두 매개 변수인 $f_o$및 $A_o$에 대해 조사되었으며, 각각 평판형 히터(plate heater) 및 압력 챔버(chamber)를 사용하여 그 반응을 조사하였다. 그리고, 소자 규모별 분석에 사용된 세 소자(Device I, Device II, Device III)들은 10μm의 고정된 전극 간격(L)과 각각 3, 5, 10μm의 전류 채널 폭(W)을 갖도록 제작되었다. 상기 세 소자들에 대해 소자에 인가되는 온도와 압력의 변화(ΔT 및 ΔP)에 의한 발진 파형($f_o$ 및 $A_o$)의 변화를 관측하였다. 소자에 인가된 압력이 없을 경우(ΔP = 0MPa) 25∼50℃의 온도 범위에서, $f_o$와 $A_o$의 온도 민감도는 Device I, Device II, Device III에 대해 각각 Δ$f_o$/ΔT = 17.4, 17.5, 17.7kHz/℃와 Δ$A_o$/ΔT = -0.163, -0.158, -0.160V/℃로 측정되었다. 유사하게, 실온(ΔT = 0℃)에서 0∼5MPa 범위의 압력이 소자에 인가될 경우, $f_o$와 $A_o$의 압력 민감도는 Device I, Device II, Device III에 대해 각각 Δ$f_o$/ΔP = 58.2, 58.5, 59.1kHz/MPa와 Δ$A_o$/ΔP = -0.469, -0.453, -0.450V/MPa로 측정되었다. 온도와 압력에 대한 매개 변수 $f_o$ 및 $A_o$의 선형 응답과 $f_o$(ΔT, ΔP) 및 $A_o$(ΔT, ΔP)의 독립성으로 인해, 각 $VO_2$ 소자에 인가되는 온도와 압력 변화는 소자별로 사전 측정된 네 민감도(즉 Δ$f_o$/ΔT, Δ$f_o$/ΔP, Δ$A_o$/ΔT, Δ$A_o$/ΔP)를 이용하여 분리 측정이 가능하다. 특히, 소자 규모별 비교 분석을 통해, $VO_2$ 소자를 이용한 온도 및 압력 분리 측정 시 소자의 W를 조절함으로써 측정 변수 초기치 설정이 가능함을 알 수 있었다.

2. 제작된 소자와 발진 원리

그림 1 (a)1 (b)는 각각 제작된 소자의 평면도 및 단면도를 나타낸다. 실험에 사용된 2단자 $VO_2$ 소자는 아래와 같은 제조 공정을 통해 제작되었다. 우선, 펄스 레이저 증착법(pulsed laser deposition method)을 이용하여 사파이어(Al2O3) 기판(substrates) 위에 $VO_2$ 박막을 증착하였다. 제작된 $VO_2$ 박막을 2단자 소자화하기 위해 이온빔 보조 밀링 기법(ion beam-assisted milling technique)을 사용하여 증착된 $VO_2$ 박막을 식각하고, 포토리소그래피(photolithography) 공정을 통해 식각된 박막 위에 금(Au)과 티타늄(Ti) 전극을 증착하였다. 여기서 금은 $VO_2$ 박막의 접촉 저항을 낮추기 위해 선택되었고, 티타늄은 $VO_2$ 박막과 금 전극 간 흡착력을 높이기 위해 사용되었다. 총 세 종류의 규모를 갖는 2단자 소자(즉 Device I, Device II, Device III)를 제작하였으며, 전극 형성 공정을 제외한 다른 모든 제작 공정은 세 종류의 $VO_2$ 소자에 동일하게 적용되었다. Device I, Device II, Device III의 전극 간격(L)은 10μm로 동일하며, 각각 3, 5, 10μm의 전류 채널 폭(W)을 갖는다. 일반적으로, 발진 파형의 매개 변수 $f_o$ 및 $A_o$는 $VO_2$ 박막 특성 및 소자 규모(즉 L 및 W)에 직접적으로 의존한다. 전압 유도 발진에 대한 반복적인 선행 실험으로부터 100∼1000kHz의 $f_o$와 0∼20V의 $A_o$ 값을 얻기 위해서는 소자의 L과 W를 20μm 미만으로 제한해야 된다는 것을 알 수 있었다. 특히, 30μm 이상의 L을 갖는 $VO_2$ 소자는 높은 임계 전압(threshold voltage)을 가지며, 이는 소자의 L이 커질 경우 전압 유도 발진을 생성시키기 위해서는 임계 전압 이상의 높은 전압이 필요하다는 것을 의미한다. 이 경우 소자에 반복적으로 인가되는 고전압이 발진의 안정성에 영향을 줄 수 있다. 따라서 원하는 범위의 $f_o$ 및 $A_o$를 얻고 안정적인 발진 생성을 구현하기 위해 L 및 W는 10μm 이하로 선택하였다.

Fig. 1. (a) Plane-view and (b) cross-section-view diagrams of the fabricated device
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Fig. 2. Schematic diagrams of the experimental setups to measure (a) temperature and (b) pressure responses of two oscillation waveform parameters (i.e., $f_o$ and $A_o$) of voltage-induced oscillation
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그림 2 (a)2 (b)는 $VO_2$ 2단자 소자, 일반 저항 및 DC 전압원으로 구성된 폐회로에서 전압 유도 발진의 두 발진 파형 매개 변수(즉 $f_o$와 $A_o$)의 온도와 압력 응답을 각각 측정하기 위한 실험 장치의 개략도를 보여주고 있다. 우선 $f_o$와 $A_o$의 온도 응답을 측정하기 위해 그림 2 (a)와 같이 $VO_2$ 소자를 평탄형 히터(ASONE RSH-1DR)위에 고정시키고 소자 주변의 온도를 제어하였다. 압력 응답 측정의 경우, 그림 2 (b)에서 확인 가능하듯이 별도로 제작된 압력 챔버(pressure chamber)에 소자를 위치시켜 소자에 인가되는 압력을 제어하며 압력 응답을 측정하였다.

그림 3 (a)-(c)는 소스미터(sourcemeter, Keithley 2410)를 이용하여 전압 및 전류 제어 모드(mode)에서 측정된 세 $VO_2$ 소자들의 I-V 특성을 보여주고 있다. 빨간색 점선은 I-V 측정 결과의 이력(hysteresis) 특성을 식별하기 위한 V-모드에서의 전압 증가 및 감소 방향을 나타내며, 분홍색 점선은 I-모드에서의 전류 증가 및 감소 방향을 나타낸다. I-V 측정에서 각 소자의 전극과 마이크로프로브 스테이션(microprobe station)의 금속 탐침(tip) 간 접촉 저항은 5Ω 이하로 측정되었다. 이러한 접촉 저항은 발진 생성 회로에 사용되는 일반 저항(7kΩ)에 비해 매우 작아 특성 분석 시 무시할 수 있는 수준이었다. 또한 I-V 특성 측정 시, 대전류와 고전압에 의해 $VO_2$ 소자가 손상되는 것을 방지하기 위해 소스미터의 전압 및 전류 제한(compliance) 값은 각각 15V와 5mA로 설정되었다. 그림 3의 V-모드 측정 결과(적색 기호)에서 높은 임계 전압(VTH1)과 낮은 임계 전압(VTH2)은 Device I의 경우 각각 ∼10.26 및 ∼3.32V, Device II의 경우 각각 ∼10.04 및 ∼3.50V, Device III의 경우 각각 ∼9.12 및 ∼2.96V로 측정되었다. 상기 V-모드 결과에서 VTH1과 (VTH1-VTH2)는 소자의 전류 채널 폭(W)에 반비례하는 것을 알 수 있다. 또한 I-모드 측정 결과(분홍색 기호)에서 낮은 임계 전류(ITH1)와 높은 임계 전류(ITH2)는 Device I의 경우 각각 ∼0.30 및 ∼2.00mA, Device II의 경우 각각 ∼0.11 및 ∼2.30mA, Device III의 경우 각각 ∼0.07 및 ∼2.55mA로 측정되었다. I-모드 결과에서는 W의 증가에 따라 ITH1은 감소하고 ITH2는 증가한다는 것을 알 수 있다. W의 증가에 따라 VTH1과 ITH1이 감소하는 결과는 소자의 W가 커질수록 전압 유도 PT 발생 시 필요한 전기 에너지를 줄일 수 있다는 것을 의미한다. 그림 3 (a)의 I-모드 결과의 영역 A에서 소자에 흐르는 전류는 인가된 전압에 따라 증가한다. 그러나 그림 3 (a)의 영역 B에서는 소자 전류는 증가하지만, 전압은 감소하는 NDR 특성이 나타난다. 소자의 이러한 NDR 특성은 용량성 또는 유도성 회로 소자 없이도 DC 전압원과 외부 저항만을 이용하여 간단히 전압 유도 발진을 생성시킬 수 있도록 해준다. 그림 3 (a)의 영역 C에서는 급격한 전류의 증가가 관찰되며, 이것은 소자의 저항이 급격히 작아졌음을 의미한다.

Fig. 3. Measured I-V characteristics of the fabricated $VO_2$ devices: (a) Device I, (b) Device II, and (c) Device III. Red and magenta symbols indicate V-mode and I-mode measurement results, respectively
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전술되었듯이 $VO_2$ 소자의 NDR 특성을 활용한 전압 유도 발진 생성을 위해, $VO_2$ 2단자 소자, REXT로 표시되는 일반 저항, DC 전압원인 소스미터를 직렬로 연결하여 전압 유도 발진 폐회로를 구성하였다. 구성된 폐회로에서의 전압 유도 발진 기전(mechanism)은 이전 연구에서 상세히 제시되었다(6-7). 이전 연구 결과에서 $VO_2$ 소자에 걸리는 전압 VD는 정량적으로 VD ∝ [1-exp(-t/τ)]로 표현된다. 여기서 t는 시간이고, τ는 $VO_2$ 소자의 커패시턴스와 REXT에 의해 결정되는 용량성 시정수이다(15). 이 식에서 $f_o$는 VD가 VTH1에 도달하는데 필요한 시간(tOSC)의 역수로 정의된다. 특히, 세 소자들의 I-V 측정 결과에서 얻어지는 각 소자의 임계 전압과 전류를 사용하여 소자별 전압 유도 발진 생성 영역을 도출할 수 있다(6). 이때, 제작된 세 소자의 규모별 발진 특성을 비교 분석하기 위해서는 동일한 조건에서 온도 및 압력 응답 측정을 수행할 필요가 있다. 따라서 세 소자들의 발진 생성 영역들을 고려하여 발진 동작점(DC 전압값 VP 및 저항값 REXT)을 세 소자 모두 동일하게 VP = 17V 및 REXT = 7kΩ으로 설정하였다. 온도 또는 압력에 의해 유도된 $f_o$ 및 $A_o$의 변동을 측정하기 위해, 저항 양단 전압(VR)을 오실로스코프(oscilloscope, HP 54810A)를 이용하여 측정하였다. 이 때, $f_o$ 및 $A_o$의 온도 반응은 평판형 히터의 온도를 25∼50℃ 범위에서 변화시켜가며 측정하였고, 압력 반응은 압력 챔버(chamber)에서 소자에 인가되는 압력을 0∼5MPa 범위에서 제어하며 측정하였다.

3. 실험 결과 및 논의

그림 4 (a)는 소자 주변 온도가 25∼50℃의 범위에서 5℃씩 증가할 때, Device I을 사용한 발진 회로에서 VR의 온도 응답을 보여준다. 그림에서 알 수 있듯이 $f_o$는 주변 온도에 비례하여 증가하고, 이와 반대로 $A_o$는 온도에 반비례한다. 측정 결과를 살펴보면 온도가 25℃에서 50℃까지 증가할 때, $f_o$는 ∼240.7kHz에서 ∼676.1kHz까지 증가했으며, $A_o$는 ∼10.64V에서 ∼6.56V로 감소하였다. 그림 4 (b)는 인가 압력이 0∼5MPa의 범위에서 1MPa씩 증가할 때, Device I을 사용한 발진 회로에서 VR의 압력 반응을 보여주고 있다. 마찬가지로, 인가 압력 증가 시 $f_o$는 증가하고, $A_o$는 감소하는 경향을 나타낸다. 그러나, 각 매개 변수의 민감도는 그림 4 (a)에서 나타나는 온도 민감도와 분명한 차이를 보이는 것을 확인할 수 있다. 측정 결과를 살펴보면 압력이 0MPa에서 5MPa까지 증가할 때, $f_o$는 ∼240.7kHz에서 ∼531.7kHz로 증가했으며, $A_o$는 ∼10.64V에서 ∼8.32V로 감소하였다. Device II의 경우, 동일한 온도 변화에 대해 $f_o$는 ∼256.7kHz에서 ∼694.2kHz로 증가하였고, $A_o$는 ∼10.20V에서 ∼6.12V로 감소하였다. 압력 응답의 경우, $f_o$는 ∼256.7kHz에서 ∼549.2kHz로 증가하였고, $A_o$는 ∼10.20V에서 ∼7.94V로 감소하였다. 마지막으로 Device III의 경우, 동일한 온도 변화에 대해 $f_o$는 ∼305.1kHz에서 ∼747.6kHz로, $A_o$는 ∼9.60V에서 ∼5.60V로 변화하였다. 또한, 동일한 압력 변화에 대해 $f_o$는 ∼305.1kHz에서 ∼600.6kHz로, $A_o$는 ∼9.60V에서 ∼7.44V로 변화하였다.

Fig. 4. (a) Temperature and (b) pressure responses of VR measured in the oscillation circuit using Device I, when the ambient temperature increases from 25 to 50℃ by 5℃ and the applied pressure increases from 0 to 5MPa by 1MPa, respectively
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일반적으로 주변 온도 또는 인가 압력이 증가할 경우 $VO_2$ 소자의 임계 전압과 임계 전류는 감소하는 특성을 보인다. 그리고, 발진을 일으키기 위한 동작점(VP, REXT)이 본 실험과 같이 17V와 7kΩ으로 각각 고정되면, 외부 자극에 의한 VTH1 또는 ITH2의 감소는 발진 생성 영역을 변화시켜 발진 매개 변수의 변화를 초래한다. $VO_2$ 소자에 인가되는 온도와 압력이 증가하면, VTH1이 감소하게 되고 이는 결국 tOSC가 줄어들게 만든다. 따라서 $f_o$ = 1/tOSC이므로 인가 온도 및 압력이 증가하면 $f_o$도 증가하게 된다. 마찬가지로, $A_o$에 대해서도 임계 전압을 이용하여 유사한 설명이 가능하다. $A_o$는 최대 및 최소 발진 전압 간 차이로 결정되므로, VTH1과 ITH2에서의 전압(VTH2 부근) 간 차이에 의해 결정된다. 따라서 주위 온도 및 압력이 증가하면 VTH1의 감소로 인해 $A_o$(≃ VTH1-VTH2)도 감소하게 된다.

특히, 소자의 규모에 따라 I-V 특성(임계 전압 및 전류)이 약간씩 다르게 나타나므로, $f_{o,i}$로 표시되는 외부 섭동이 없는 $VO_2$ 소자의 $f_o$는 소자의 규모에 따라 다르다. 소자의 규모에 따라 $f_{o,i}$가 다르다는 것을 실험적으로 증명하기 위해 서로 다른 W를 갖는 세 소자에 대해 발진 생성 실험을 수행하였다. 기본적으로 W는 소자의 전류 채널 폭이므로 W의 증가는 소자 저항 RD를 감소시키고, 결과적으로 시정수 τ를 감소시켜 $f_o$를 증가시킨다. 또한, W의 증가로 인한 VTH1의 감소는 tOSC를 감소시킴과 동시에 $f_o$를 증가시킨다. 결론적으로 $f_{o,i}$는 W에 비례하는 것을 알 수 있다. 실험 결과 Device I, Device II, Device III에 대한 $f_{o,i}$ 값은 각각 ∼240.7, ∼256.7, ∼305.1kHz로 측정되었다. 유사하게, $A_o$의 경우 W의 증가로 인한 VTH1-VTH2의 감소는 $A_o$를 감소시킨다. 그리고, $A_{o,i}$ 값은 실험적으로 Device I, Device II, Device III에 대해 각각 ∼10.64, ∼10.20, ∼9.60V로 측정되었다. 측정 결과, 소자의 W에 따라 초기 발진 주파수와 초기 발진 진폭이 달라지며, W가 증가할 경우 $f_{o,i}$는 증가하고, $A_{o,i}$는 감소하는 것을 확인할 수 있었다.

그림 5 (a)5 (b)는 세 소자들에 대해서 측정된 발진 매개 변수들의 온도 및 압력 응답을 각각 보여준다. 주황색 및 분홍색 기호는 각각 $f_o$와 $A_o$의 응답 곡선을 나타낸다. 그리고 Device I, Device II, Device III의 응답 측정 결과는 각각 원, 삼각형, 마름모 기호로 표시하였다. 그림 5 (a)의 측정 결과를 살펴보면, Device I의 경우 $f_o$와 $A_o$의 온도 민감도는 각각 Δ$f_o$/ΔT = 17.4kHz/℃와 Δ$A_o$/ΔT = -0.163V/℃이었다. 나머지 소자들에서 Δ$f_o$/ΔT 및 Δ$A_o$/ΔT는 Device II의 경우 각각 17.5kHz/℃ 및 -0.158V/℃, 그리고 Device III의 경우 각각 17.7kHz/℃ 및 -0.160V/℃이었다. 또한, 측정된 결과에 대해 선형 회귀 분석(linear regression analysis)을 수행한 결과, 보정 R2 값은 Device I, Device II, Device III에 대해 Δ$f_o$/ΔT의 경우 각각 ∼0.9987, ∼0.9982, ∼0.9994이었고, Δ$A_o$/ΔT의 경우 각각 ∼0.9980, ∼0.9955, ∼0.9994로 분석되었다. 마찬가지로 그림 5 (b)의 측정 결과에서 $f_o$와 $A_o$의 압력 민감도는 세 소자들(Device I, Device II, Device III)에 대해 Δ$f_o$/ΔP의 경우 각각 58.2, 58.5, 59.1kHz/MPa이었고, Δ$A_o$/ΔP의 경우 각각 -0.469, -0.453, -0.450V/MPa이었다. 또한, 선형 회귀 분석 결과 보정 R2 값은 Device I, Device II, Device III에 대해 Δ$f_o$/ΔP의 경우 각각 ∼0.9982, ∼0.9971, ∼0.9966이었고, Δ$A_o$/ΔP의 경우 각각 ∼0.9848, ∼0.9967, ∼0.9929로 분석되었다. 상기 보정 R2 값들로 미루어볼 때, $f_o$ 및 $A_o$의 온도와 압력 응답들이 충분히 선형적임을 알 수 있다. 따라서 $f_o$ 및 $A_o$의 온도와 압력 민감도들 즉 Δ$f_o$/ΔT, Δ$A_o$/ΔT, Δ$f_o$/ΔP, Δ$A_o$/ΔP는 상수로 얻어지게 된다.

Fig. 5. (a) Temperature- and (b) pressure-induced variations of $f_o$ and $A_o$. Orange and magenta symbols represent measured data of $f_o$ and $A_o$, respectively. And, variations of $f_o$ and $A_o$ of Devices I, II, and III are indicated as circles, triangles, and diamonds, respectively
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상기 네 민감도 계수들은 선형 대수 관계식 (1)을 통해 $VO_2$ 소자에 인가된 온도 및 압력 변화를 동시에 감지하는데 사용될 수 있다.

(1)
$\left[\begin{array}{c}{\Delta f_{o}} \\ {\Delta A_{o}}\end{array}\right]=\left[\begin{array}{l}{a b} \\ {c d}\end{array}\right]\left[\begin{array}{c}{\Delta T} \\ {\Delta P}\end{array}\right]$

여기서 ΔT와 ΔP는 각 소자에 인가되는 온도 및 압력 변화이고, Δ$f_o$와 Δ$A_o$는 각각 $f_o$ 및 $A_o$의 변화량이다. 행렬 계수 a와 c는 인가된 압력이 0MPa일 때 $f_o$와 $A_o$의 온도 민감도(Δ$f_o$/ΔT 및 Δ$A_o$/ΔT)를 나타내며, 계수 b와 d는 소자 주변의 온도가 25℃로 고정되었을 때, $f_o$와 $A_o$의 압력 민감도(Δ$f_o$/ΔP 및 Δ$A_o$/ΔP)이다. 세 소자들에 대해 실험으로부터 얻어진 민감도 계수들은 표 1에 제시되어 있다. 외부 자극이 가해지지 않은 발진 파형을 기준으로 $VO_2$ 소자에 인가된 온도와 압력의 변화(즉 ΔT와 ΔP)에 의해 변화되는 발진 파형으로부터 Δ$f_o$ 및 Δ$A_o$를 측정하면, ΔT 및 ΔP는 식(2)를 활용하여 쉽게 알아낼 수 있다.

(2)
$\left[\begin{array}{c}{\Delta T} \\ {\Delta P}\end{array}\right]=\left[\begin{array}{c}{a b} \\ {c d}\end{array}\right]^{-1}\left[\begin{array}{c}{\Delta f_{o}} \\ {\Delta A_{o}}\end{array}\right]$

Table 1. 세 소자들의 민감도 계수

소자

a

(kHz/

℃)

b

(kHz/

MPa)

c

(V/

℃)

d

(V/

MPa)

a/b

c/d

I

17.4

58.2

-0.163

-0.469

∼0.299

∼0.348

II

17.5

58.5

-0.158

-0.453

∼0.299

∼0.349

III

17.7

59.1

-0.160

-0.450

∼0.299

∼0.355

식(1)에서, $f_o$(ΔT, ΔP)와 $A_o$(ΔT, ΔP)는 $f_{o,i}$ + Δ$f_o$ = $f_{o,i}$ + aΔT + bΔP와 $A_{o,i}$ + Δ$A_o$ = $A_{o,i}$ + cΔT + dΔP로 각각 나타낼 수 있다. 여기서 $f_{o,i}$와 $A_{o,i}$는 인가된 외부 자극이 없는 소자의 $f_o$와 $A_o$를 나타낸다. 또한, 표 1의 a/b와 c/d 값으로부터 세 소자들의 $f_o$와 $A_o$는 서로 독립적인 관계를 갖는다는 것을 알 수 있고, 이는 식(2)가 유일한 해를 가진다는 것을 의미한다. 즉 각 소자에 인가되는 온도 및 압력 변화(ΔT 및 ΔP)는 각 소자의 Δ$f_o$ 및 Δ$A_o$를 측정하여 동시에 구할 수 있다. 특히, 소자 규모별 실험 결과에 따르면 $f_{o,i}$ 및 $A_{o,i}$는 소자의 규모와 직접적으로 관련이 있으며, $VO_2$ 소자의 규모를 변경함으로써 측정 매개 변수의 초기치 설정이 가능하므로 파형 측정 장비의 동적 측정 범위(dynamic range)에 유연성을 제공할 수 있다.

4. 결 론

본 논문에서는 2단자 $VO_2$ 소자를 기반으로 생성시킨 전압 유도 발진의 발진 주파수와 발진 진폭(즉 $f_o$와 $A_o$)을 이용하여 소자에 인가되는 온도 및 압력 변화를 동시에 측정할 수 있는 기법을 제시하였고, 규모가 다른 세 $VO_2$ 소자들에 대해 상기 온도 및 압력 반응의 전류 채널 폭 의존성을 조사하였다. 2단자 $VO_2$ 소자, 일반 저항, DC 전압원이 직렬로 연결된 발진 회로를 구현하고, $f_o$와 $A_o$의 온도 및 압력 응답을 25∼50℃의 온도 범위와 0∼5MPa의 압력 범위에서 조사하였다. 실험 결과 $f_o$와 $A_o$는 특정 온도와 압력 범위 내에서 선형적이고 독립적인 온도 및 압력 반응을 나타냄을 알 수 있었다. 이러한 실험 결과는 $VO_2$ 소자가 매우 작은 영역(< 1mm$^2$)에서 온도와 압력을 동시에 감지하기 위한 센서로 활용될 수 있다는 것을 의미한다. 특히, W에 따른 소자별 응답 의존성 비교 분석 결과, W 조절을 통해 $f_{o,i}$와 $A_{o,i}$를 변화시킬 수 있음을 알 수 있었다. 이러한 W에 대한 $f_{o,i}$와 $A_{o,i}$의 의존성을 이용하여 $VO_2$ 발진 기반 센싱 소자를 측정 장비의 동적 측정 범위에 최적화시킬 수 있을 것으로 예상된다.

Acknowledgements

이 논문은 2016년도 정부(교육부)의 재원으로 한국연구재단의 지원을 받아 수행된 기초연구사업임.

(2016R1D1A1B03933263)

References

1 
F. J. Morin, 1959, Oxides which show a metal-to-insulator transition at the neel temperature, Phys. Rev. Lett., Vol. 3, No. 1, pp. 34DOI
2 
Eyert V., 2002, The metal-insulator transitions of $VO_2$: A band theoretical approach, Ann. Phys., Vol. 11, No. 9, pp. 650-704Google Search
3 
A. Dhawan, Y. Sharma, L. Brickson, J. F. Muth , 2014, Incorporation of vanadium oxide films in optical fibers for temperature sensing and optical switching applications, Opt. Mater. Express, Vol. 4, No. 6, pp. 1128-1139DOI
4 
Wang T., 2015, Increasing efficiency, speed, and responsivity of vanadium dioxide based photothermally driven actuators using single-wall carbon nanotube thin-films, ACS Nano, Vol. 9, No. 4, pp. 4371-4378DOI
5 
E. Strelcov , Y. lilach , A. Kolmakov , 2009, Gas sensor based on metal-insulator transition in $VO_2$ nanowire thermistor, Nano Lett., Vol. 9, No. 6, pp. 2322-2326DOI
6 
Lee Y. W., 2008, Metal-insulator transition-induced electrical oscillation in vanadium dioxide thin film, Appl. Phys. Lett., Vol. 92, No. 16, pp. 162903(1-3)DOI
7 
T. Driscoll , 2012, Current oscillations in vanadium dioxide: Evidence for electrically triggered percolation avalanches, Phys. Rev. B, Vol. 86, No. 9, pp. 094203(1-8)DOI
8 
E. Arcangeletti , 2007, Evidence of a pressure-induced metallization process in monoclinic $VO_2$, Phys. Rev. Lett., Vol. 98, No. 19, pp. 196406(1-4)DOI
9 
A. Cavalleri , 2001, femtosecond structural dynamics in $VO_2$ during an ultrafast solid-solid phase transition, Phys. Rev. Lett., Vol. 87, No. 23, pp. 237401(1-4)Google Search
10 
Y. Zhao , 2012, Structural, electrical, and terahertz transmission properties of $VO_2$ thin films grown on c-, r-, and m-plane sapphire substrates, J. Appl. Phys., Vol. 111, No. 5, pp. 053533(1-8)DOI
11 
W. Burkhardt , 1999, W- and F-doped $VO_2$ films studied by photoelectron spectrometry, Thin Solid Films, Vol. 345, No. 2, pp. 229-235DOI

Biography

Min Seok Kim
../../Resources/kiiee/JIEIE.2019.33.10.019/au1.png

He received B.S. and M.S. degrees in Electrical Engineering and Interdisciplinary Program of Biomedical Mechanical & Electrical Engineering from Pukyong National University in 2017 and 2019, respectively.

His research interests include optical fiber devices for optical sensors and field-induced oscillation devices based on vanadium-dioxide thin films.

Yong Wook Lee
../../Resources/kiiee/JIEIE.2019.33.10.019/au2.png

He received B.S., M.S., and Ph. D. degrees in Electrical Engineering from Seoul National University in 1998, 2000, and 2004, respectively.

He is now an associate professor at Electrical Engineering in Pukyong National University.

His research interests are photonics and oxide semiconductors.